Microscope à sonde à balayage AA3000

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Le microscope à sonde à balayage AA3000 est notre modèle le plus populaire. Il est conçu pour la recherche et les applications industrielles, où l'utilisateur doit effectuer des analyses rapides et simples. Le détecteur est intégré directement dans la base, ce qui élimine le risque de l'endommager lors de la manipulation. L'AA3000 est capable d'effectuer des analyses en mode contact, en mode tapotement, en microscopie à force latérale et en microscopie à effet tunnel. L'unité standard est équipée pour visualiser des zones d'échantillons allant jusqu'à 10 microns par 10 microns. Le système peut être personnalisé pour mesurer des zones plus grandes. Grâce à un processeur de signaux numériques (DSP) TMS320C642 à l'intérieur des systèmes, l'AA3000 peut gérer efficacement des tâches multifonctionnelles complexes. Un système d'exploitation en temps réel de SPM/DNA est intégré dans le système AA3000 SPM. Caractéristiques Haute performance Résolution à l'échelle atomique Grande taille d'échantillon Traitement numérique du signal (DSP) pour de meilleures performances Système d'exploitation en temps réel intégré Connexion Ethernet rapide avec l'ordinateur Multi-fonctions Microscope à force atomique (AFM) Microscope à force latérale (LFM) Analyse de la force : Courbe I-V, courbe I-Z, courbe de force Image 3D en temps réel en ligne pour une meilleure observation Signaux multicanaux pour plus de détails sur l'échantillon Balayage Trace-Retrace, Balayage Back-Forward Multi-analyse : Granularité et rugosité Chargement des données pour une analyse plus approfondie Facilité d'utilisation Engagement rapide et automatique de la pointe Changement facile du porte-pointes, pour une commutation aisée entre STM et AFM Contrôle entièrement numérique, reconnaissance automatique de l'état du système Déplacement de l'échantillon par logiciel Fonction Nano-Movie : Collecte, stockage et relecture de données en continu Conception modulaire pour faciliter la maintenance et les mises à niveau futures