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Microscope optique JEM-F200
TEMSTEMde laboratoire

microscope optique
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Caractéristiques

Type
optique, TEM, STEM
Applications
de laboratoire, polyvalent
Technique d'observation
à fond sombre
Configuration
au sol
Autres caractéristiques
ultra haute résolution
Résolution spatiale

0,14 nm, 0,16 nm, 0,19 nm, 0,23 nm

Description

Les besoins et les exigences des scientifiques grandissant sans cesse, JEOL continue de développer ses équipements pour répondre au mieux à leurs besoins. Fort de son expérience sur le développement de la cathode froide pour sa gamme de microscopes corrigés ARM, JEOL a décidé de proposer un nouveau TEM non-corrigé intégrant sa fameuse cathode froide. En effet, la cathode froide est la seule source d’électrons qui permette d’allier une petite taille de sonde, une importante brillance, et une très faible dispersion en énergie, le tout sans compromis. Le F2 permet d’intégrer une très grande variété de périphériques : caméras (CCD, CMOS, détection directe…), EDS à très large angle solide, EELS, précession, porte-objet in-situ (cryo, gaz, chauffant, liquide…) A l’heure de la 21ème conférence sur le climat il était impératif d’introduire dans le cahier des charges un impact carbone minime. C’est chose faite avec une consommation 5 fois inférieure à celle d’un MET à source Schottky. Cathode Froide (Improved Cold FEG) Le F2 est équipé de la nouvelle génération de cathode froide (Flash & Go) développée sur les derniers ARM. Cette source procure une brillance, une taille de sonde, une dispersion énergétique et une durée de vie, très supérieure à celle d’une source Schottky. DUAL EDS (1,7srd) Cet angle solide est le double de ce qui se fait de mieux à l’heure actuelle sur les MET corrigés et non corrigés. Il permet de travailler avec des courants très faibles, sur des échantillons sensibles, de réaliser des cartographies en quelques secondes, de travailler sur les éléments légers et de réaliser des cartographies atomiques.

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Analytica China 2024
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18-20 nov. 2024 Shanghai (Chine)

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