Réfractomètre numérique J157 series
de laboratoirede paillasseavec écran tactile

réfractomètre numérique
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Caractéristiques

Type
numérique
Applications
de laboratoire
Configuration
de paillasse
Autres caractéristiques
avec écran tactile

Description

Le réfractomètre numérique Rudolph J157 offre des performances élevées et une gamme de caractéristiques adaptées à de nombreuses applications exigeantes dans les laboratoires et les environnements industriels difficiles. Rudolph Research Analytical, en collaboration avec des utilisateurs de réfractomètres (Refraktometer) de différents pays et disciplines, a développé la série J157 de réfractomètres numériques. La gamme de réfractomètres de paillasse Rudolph J157 combine les caractéristiques, la plage de mesure et la précision qui répondent aux applications les plus exigeantes à l'intérieur et à l'extérieur du laboratoire et partage de nombreuses caractéristiques avec la gamme de réfractomètres Rudolph Research. Le réfractomètre numérique J157 PLUS HA est parfait pour les mesures de haute précision dans l'industrie du sucre, de l'alimentation et des boissons Le réfractomètre numérique Rudolph J157HA offre une haute précision de RI ±0.00002, BRIX ±0.01 avec une gamme de mesure de RI 1.32 - 1.53, BRIX 0 - 100. Plus important encore, cela fait du J157HA un excellent choix pour le contrôle de la qualité des produits alimentaires et des boissons. Réfractomètre numérique - J157 PLUS WR idéal pour l'industrie chimique. Avec une gamme de mesure de RI 1.29 - 1.66 et BRIX 0 - 100, le Rudolph J157WR offre la polyvalence nécessaire pour les usines chimiques où les produits chimiques sont principalement non aqueux. En outre, le J157WR offre une précision de ±0,0001 RI et ±0,1 BRIX, ce qui est supérieur à la précision requise dans la plupart des usines chimiques. J157-633 pour la recherche en biotechnologie et en bio-ingénierie Un réfractomètre pour la biotechnologie et la bio-ingénierie conçu spécifiquement pour la mesure des matériaux dans le système de spectroscopie par guide d'ondes optiques en mode lumière (OWLS). Il est ainsi capable de mesurer l'indice de réfraction effectif d'une couche mince au-dessus de la surface d'un guide d'ondes en Si(Ti)O2.

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