Caméra d'inspection Ruitong ®LITE

de diagnosticnumérique

Description du produit
瑞瞳-LITE est un système de navigation optique à vision binoculaire économique qui surveille avec précision la position et le mouvement d'un objet en suivant des micro-marqueurs fixés sur celui-ci. Basé sur une plateforme technologique FPGA développée en interne, il résiste à la dérive thermique et aux interférences électromagnétiques, s'adapte à divers environnements et assure un suivi et un positionnement temps réel à haute fréquence sur des distances moyennes à longues.

Technologie innovante

• Précision de positionnement submillimétrique — Offre une précision au niveau submillimétrique adaptée à diverses applications de précision.
• Haute fréquence d'échantillonnage — Taux d'échantillonnage de 120 Hz pour capter les mouvements rapides et assurer un suivi dynamique précis en temps réel.

Caractéristiques techniques
Spécification : paramètres
Dimensions totales : 588*80*86 mm
Précision de positionnement (RMS) : submillimétrique
Fréquence d'échantillonnage : 120 Hz
Plage de suivi optimale : 950 mm ~ 2400 mm
Distance de travail maximale : 3 m

Scénarios d'application

• Recherche scientifique
• Enseignement et recherche

Secteurs d'application

• Santé intelligente
  Dispositifs de diagnostic intelligents
  Soutien à l'évaluation peropératoire
  Recherche clinique et formation
• Construction industrielle
  Assemblage et étalonnage de précision
  Inspection et contrôle qualité
  Détection de défauts de surface
• Éducation & recherche
  Plateformes de simulation visuelle
  Démonstration de modèles d'enseignement 3D
  Laboratoires virtuels
• Film & divertissement
  Applications métaverses
  Suivi de mouvement
  Modélisation de jeux

Caractéristiques / spécifications (résumé)

• Système de navigation optique basé sur la vision binoculaire
• Suivi de micro-marqueurs fixés pour contrôler position et mouvement
• Plateforme FPGA propriétaire résistante à la dérive thermique et aux interférences électromagnétiques
• Précision de positionnement submillimétrique
• Fréquence d'échantillonnage : 120 Hz
• Plage de suivi optimale : 950 mm ~ 2400 mm
• Distance de travail maximale : 3 m