Granulomètre laser Bettersizer 2600 Plus

optiquepar analyse d'images dynamiquepar diffraction laser

Présentation
Le Bettersizer 2600 Plus associe la diffraction laser et l'imagerie dynamique à double caméra sur une plateforme modulaire unique pour fournir à la fois des mesures de taille et de forme des particules. L'appareil accepte des modules de dispersion humides et secs modulaires afin qu'un même système puisse être configuré pour des types d'échantillons, volumes et solvants variés. Il délivre des distributions granulométriques rapides et reproductibles grâce à une optique de diffraction laser performante et capture des images à grande vitesse pour quantifier taille et forme et fournir des preuves visuelles d'agglomérats, de particules irrégulières et de queues surdimensionnées.

Fonctions et avantages

• Taille et forme sur une même plateforme : combinaison de diffraction laser et d'imagerie dynamique
• Large plage : 0,02–3500 µm en configuration combinée (la diffraction laser couvre nominalement la plage fine-à-grossière ; l'imagerie combinée étend la limite supérieure)
• Unités de dispersion modulaires : configurations humides et sèches flexibles pour différents échantillons et solvants

Système avancé de diffraction laser

• Collecte de signal grand-angle pour améliorer la fiabilité et la robustesse des PSD
• Système optique breveté Fourier et inverse-Fourier pour une capture de signal améliorée
• Réseau de 92 détecteurs pour une détection de diffusion de haute qualité
• Couverture angulaire d'environ 0,016°–165° pour particules fines et grossières
• Conception de cellule d'échantillon inclinée pour réduire la réflexion interne totale et améliorer l'utilisation du signal
• Capacité brevetée de mesure de l'indice de réfraction pour augmenter la confiance sur des échantillons optiquement difficiles

Points forts de performance

• Plage de mesure par diffraction laser (configuration instrument typique) : de la région submicronique au domaine des particules grossières (résolution fine jusqu'à 0,02 µm selon configuration)
• Capacité de la plateforme combinée jusqu'à 3500 µm lorsque le module d'imagerie est ajouté
• Vitesse de mesure : mesures complètes en aussi peu que ~10 s (dépend de l'application)
• Objectifs d'exactitude et de répétabilité : spécifiés meilleurs que ~0,5% dans des conditions d'essai appropriées

Imagerie dynamique à double caméra (PIC-1) — imagerie particulaire en temps réel

• Module d'imagerie modulaire à double caméra pour l'acquisition d'images particulaires en temps réel pendant la mesure
• Fonctionne en mode imagerie seule ou combiné (imagerie + diffraction laser)
• Capture des images particulaires à grande vitesse et fournit de nombreux paramètres de taille et de forme (jusqu'à des dizaines de descripteurs)
• Plage de taille en imagerie : env. 2–3500 µm (selon les objectifs et la magnification)
• Magnifications disponibles : ex. 0,5× et 10× (sélectionnables)
• Imagerie à haute fréquence d'images (ex. jusqu'à ~70 ips) pour capturer les particules en flux
• Assure la traçabilité visuelle des particules surdimensionnées, des agglomérats et des événements rares pour le QC et le dépannage

Modularité de dispersion et flexibilité des flux

• Compatibilité avec un large choix d'unités de dispersion humides et sèches pour différents types d'échantillons et solvants
• Conception modulaire mono-instrument permettant la consolidation en laboratoire de plusieurs workflows de mesure

Logiciel et résultats

• Gestion intégrée des données fusionnant les résultats de taille et de forme et permettant l'examen des images particulaires pour la traçabilité
• Rapports complets de paramètres de taille et de forme pour l'analyse particule-unique et des synthèses statistiques

Caractéristiques techniques

• Dénomination commerciale : Bettersizer 2600 Plus
• Technologie : diffraction laser + imagerie dynamique à double caméra (modulaire)
• Réseau de détecteurs diffraction laser : 92 détecteurs
• Couverture angulaire diffraction laser : ~0,016°–165°
• Plage nominale de mesure diffraction laser : d'environ 0,02 µm (submicronique) jusqu'à ~2600 µm en natif (l'imagerie combinée étend à ~3500 µm)
• Plage combinée avec imagerie : jusqu'à ~3500 µm
• Plage du module d'imagerie (PIC-1) : ~2–3500 µm
• Modes d'imagerie : imagerie seule ou combinée (imagerie + diffraction laser)
• Magnifications d'imagerie : ex. 0,5× et 10×
• Fréquence d'images : jusqu'à ~70 ips (dépend de l'application)
• Caractéristiques optiques : optiques brevetées Fourier/inverse-Fourier, cellule d'échantillon inclinée
• Gestion optique des matériaux : mesure de l'indice de réfraction pour renforcer la confiance des analyses Mie
• Temps de mesure typique : jusqu'à ~10 s (dépend de l'application)
• Exactitude / répétabilité : objectifs de conception meilleurs que ~0,5% (dépend de l'application)
• Dispersion modulaire : prises en charge de plusieurs unités de dispersion humides et sèches pour des workflows flexibles
• Sortie : distributions granulométriques (diffraction laser) et statistiques multi-paramètres taille/forme avec images particulaires pour la traçabilité