Microscope infrarouge LUMOS II ILIM

infrarougede laboratoirede paillasse

LUMOS II ILIM redéfinit la vitesse et la précision de l'imagerie infrarouge. Grâce à sa technologie brevetée d'imagerie laser infrarouge, il fournit des données hyperspectrales à un rythme qui transforme les flux de travail : ce qui prenait des mois peut désormais être réalisé en quelques jours. Il n'est pas seulement plus rapide, il est aussi plus intelligent, combinant l'automatisation, l'analyse pilotée par l'IA et l'imagerie multimodale pour la recherche et les applications de routine. - Vitesse sans précédent : 169× plus rapide que l'imagerie FT-IR avec des détecteurs FPA. - Grand champ de vision : 2.2 × 2,0 mm avec une taille de pixel / résolution spatiale de 4,25 µm. - Matériel entièrement automatisé et flux de travail logiciel à bouton-poussoir. - Flux de travail spécifiques aux applications : TissuePlus™, TabletPlus™, ParticlePlus™. - Réduction de la cohérence spatiale brevetée pour des images IR sans artefact. - Classe de sécurité laser 1 avec protection WinGuard™. - Analyse assistée par l'IA et interface Python pour des flux de travail personnalisés. Développé par Bruker, il fournit des images IR d'une incroyable qualité en offrant deux choses : une ouverture numérique élevée de 0,6 et un champ de vision remarquable de 2,2 mm x 2 mm. Cette technologie ILIM brevetée change la donne en matière d'imagerie laser IR et de microscopie. Elle élimine les artefacts de cohérence spatiale et permet aux utilisateurs de créer des images chimiques étonnantes. Le LUMOS II est connu et apprécié pour sa conception ouverte et révolutionnaire. C'est pourquoi nous avons conçu un système de protection laser intelligent qui permet d'atteindre la classe de sécurité laser 1 tout en conservant un accès libre à la platine de l'échantillon. Le LUMOS II ILIM est conçu pour les applications de routine. Le paramétrage des mesures à l'aide d'un code QR ou d'un code-barres réduit les éventuels goulets d'étranglement liés à la préparation de l'échantillon et au paramétrage des mesures.