Spectromètre EDXRF XRF2501

optiqueICP-MSAAS

Chaque seconde compte pour le contrôle des processus et de la qualité. Les résultats des tests sont requis d'urgence dès la réception de l'échantillon. Le XRF2501 est équipé d'une interface simple et intuitive qui vous permet de charger les échantillons, d'appuyer sur le bouton et d'obtenir des résultats de haute qualité en quelques secondes. Par rapport à la technologie d'analyse AAS, AFS, ICP et ICP-MS, le XRF2501 n'a pas besoin de dissoudre et de digérer les échantillons, ni d'utiliser de réactif chimique. La vitesse d'analyse est rapide et ne détruit pas les échantillons. Le XRF2501 peut être utilisé pour analyser des échantillons, qu'ils soient solides ou liquides, pressés ou en poudre, grands ou petits. Large champ d'application : Convient aux échantillons solides, liquides, en poudre et en particules. Facilité d'utilisation : Il n'est pas nécessaire de procéder à un prétraitement compliqué des échantillons. Les utilisateurs n'ont qu'à placer les échantillons dans la zone de test et à cliquer sur Démarrer pour terminer l'analyse. Efficacité élevée : 1 à 15 minutes pour l'analyse d'un seul échantillon (ce temps peut être ajusté en fonction des besoins). Conception modulaire : Combinaison libre selon les besoins pour s'adapter à une variété de scénarios d'utilisation. Faible coût : Aucun produit chimique ou autre consommable n'est nécessaire et aucun hélium n'est consommé en mode vide. Meilleure résolution et meilleur CR : Adopte la nouvelle génération de détecteurs de dérive au silicium VITUS d'Allemagne, avec le meilleur taux de comptage et la meilleure résolution énergétique. Le XRF2501 utilise pleinement la puissance du tube optique de 50 W, ce qui lui confère une stabilité et une sensibilité élevées. Large gamme : Tous les éléments de Na-U sont testés à des concentrations allant de PPM à 100%. Fonctionnement sûr : La chambre d'essai de l'instrument adopte des mesures de triple protection, notamment un cuivre épais, un verrouillage électronique et une interruption logicielle, garantissant absolument l'absence de fuite de rayons X dans n'importe quel environnement d'essai.