Microscope optique SEM5000
à émission de champ par balayagemédicalde paillasse

microscope optique
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Caractéristiques

Type
optique, à émission de champ par balayage
Applications
médical
Configuration
de paillasse
Autres caractéristiques
haute résolution
Grossissement

Min: 1 unit

Max: 2 500 000 unit

Description

Le CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception avancée de la colonne, technologie de tunnel à haute tension (SuperTunnel), conception de l'objectif magnétique à faible aberration et sans fuite, pour obtenir une imagerie haute résolution à basse tension, alors que les échantillons magnétiques peuvent être appliqués. Navigation optique, fonctions automatiques avancées, interaction homme-machine bien conçue et fonctionnement optimisé. Que l'on soit expérimenté ou non, on peut rapidement se lancer dans des tâches de prise de vue à haute résolution. Caractéristiques 01 Imagerie haute résolution à faible tension d'accélération. 02 Le miroir composé électromagnétique réduit les aberrations, améliore considérablement la résolution à basse tension et permet l'observation d'échantillons magnétiques. 03 Technologie du tunnel à haute pression (SuperTunnel), où les électrons dans le tunnel peuvent conserver une énergie élevée, réduisant les effets de charge d'espace et garantissant une résolution à basse tension. 04 Le chemin optique électronique sans croisement réduit efficacement l'aberration du système et améliore la résolution. 05 Objectif à température constante refroidi à l'eau, pour garantir la stabilité, la fiabilité et la répétabilité du travail de l'objectif. 06 Diaphragme réglable à six trous par déflexion magnétique, diaphragme à commutation automatique, pas de réglage mécanique, pour réaliser une observation à haute résolution ou un mode d'analyse à faisceau large à commutation rapide. Logiciel - Système d'exploitation - Windows Navigation - Navigation optique, navigation rapide par geste Fonctions automatiques - Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, dissipation automatique Standard - Détecteur électronique à angle élevé dans la colonne de l'objectif Détecteur électronique latéral à faible angle

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Analytica China 2024
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18-20 nov. 2024 Shanghai (Chine)

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