Microscope électronique à balayage
SEMélectronique à transmissionTEM

microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
 

Caractéristiques

Type
électronique à balayage, SEM, électronique à transmission, TEM
Applications
de laboratoire
Configuration
de petite dimension
Résolution spatiale

0,1 nm

Description

Les microscopes électroniques appelés SEM (Scanning Electron Microscope) et TEM (Transmission Electron Microscope) ont le plus fort grossissement au monde. Ils utilisent des ondes courtes de faisceaux d'électrons au lieu de la lumière pour observer de petits objets de plusieurs nanomètres. Ces microscopes sont utilisés dans des études scientifiques avancées dans le monde entier, notamment dans le domaine biomédical et le développement de matériaux dans les institutions publiques, les laboratoires de recherche et les universités. Dans cette application, le positionnement de la platine est l'une des fonctions les plus importantes pour confirmer les petits objets et notre actionneur linéaire permet de positionner la platine avec une résolution de 0,1 nanomètre.

---

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de Citizen Chiba Precision
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.