Microscope optique EHD-T180VA SWIR
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Microscope optique - EHD-T180VA SWIR - EHD imaging - numérique / infrarouge / d'inspection
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Caractéristiques

Type
optique, numérique, infrarouge
Applications
de laboratoire, d'inspection
Technique d'observation
à fluorescence
Configuration
compact

Description

Les caméras EHD CTR et ITR sont conçues pour répondre aux exigences élevées de la microscopie à fluorescence et de la microscopie optique modernes. Conçues pour les chercheurs et les professionnels travaillant avec des signaux faibles ou de faible intensité, ces caméras offrent une sensibilité supérieure, fournissant des images claires et nettes même dans les conditions les plus difficiles. Pour garantir une intégration harmonieuse, nous proposons une gamme de coupleurs vidéo compatibles avec les microscopes des principaux fabricants tels qu'Olympus, Leica et Zeiss. Cette flexibilité vous permet de faire évoluer votre microscope avec un minimum d'inconvénients, garantissant ainsi la compatibilité avec une grande variété de configurations. L'évolution de la technologie des capteurs CMOS, motivée par la demande de systèmes d'imagerie compacts et performants soumis à des contraintes strictes de taille et de puissance, a permis des avancées significatives dans le domaine de la microscopie numérique. Les microscopes modulaires à infrarouge à ondes courtes (SWIR), illustrés par des systèmes tels que le microscope EHD SWIR, offrent désormais des capacités transformatrices pour les applications industrielles et scientifiques en étendant l'imagerie au-delà du spectre visible traditionnel (400-700 nm) dans la gamme des 900-1700 nm. La microscopie modulaire SWIR comble le fossé entre les systèmes optiques conventionnels et l'imagerie IR spécialisée, offrant une précision inégalée pour l'inspection des matériaux et de l'électronique de la prochaine génération. Les microscopes modulaires SWIR sont essentiels pour : 1. Fabrication de semi-conducteurs : Détection des défauts de subsurface dans les plaquettes de silicium et les interconnexions de puces. 2. Science des matériaux : Identification de fissures invisibles dans les céramiques ou les matériaux composites. 3. Inspection industrielle : Analyse des structures souterraines des composants sans démontage destructif

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Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.