Spectrofluoromètre UV Nanolog®

visibleà fluorescencede transfert

Notre spectrofluorimètre modulaire Nanolog est spécialement conçu pour la recherche dans le domaine des nanotechnologies et des nanomatériaux Les spectrofluorimètres de la série Nanolog® sont spécialement conçus pour la recherche en nanotechnologie et aux frontières des nanomatériaux. Un spectre complet peut être balayé en quelques millisecondes, et un balayage complet de la matrice d'excitation et d'émission peut être effectué en quelques secondes seulement. Basé sur la technologie mondialement éprouvée du Fluorolog®, le Nanolog détecte la fluorescence dans le proche infrarouge de 800 à 1700 nm (détection multicanal optionnelle jusqu'à 2 µm, détection monocanal jusqu'à 3 µm), avec des options possibles dans le visible et l'UV. Le Nanolog est accompagné d'un logiciel spécialement conçu, appelé Nanosizer, idéal pour classer les SWNT et les Quantum Dots et pour effectuer des calculs de transfert d'énergie. Il n'a jamais été aussi facile de sauvegarder des routines expérimentales personnalisées et des configurations d'instruments. Caractéristiques Matrices d'excitation-émission rapides en quelques secondes Haute sensibilité dans le proche infrarouge grâce à la matrice InGaAs Haute résolution Facilite la qualification et la quantification des espèces et des familles de SWNT Compatible avec une variété de détecteurs allant de l'UV au proche infrarouge : Tube photomultiplicateur pour une sensibilité maximale et une analyse résolue dans le temps Matrice CCD à un seul élément InGaAs et à plusieurs éléments, populaire et rentable, pour une acquisition rapide des données Résolution simultanée de mélanges de points quantiques Réalisation d'expériences de transfert d'énergie Conception modulaire pour une configuration expérimentale idéale Logiciel FluorEssence Menus déroulants simplifiés Algorithme de détection pour l'acquisition de données personnalisées Balayage matriciel pour les données tridimensionnelles Contrôle en temps réel pour les effets instantanés de la modification du matériel Cartes de contours et tracés en perspective 3D