Microscope AFM SignatureSPM

optiqueRamande laboratoire

SignatureSPM est le premier microscope construit sur une plateforme de caractérisation multimodale, intégrant un microscope à force atomique (AFM) automatisé avec un spectromètre Raman/Photoluminescence, permettant de véritables mesures colocalisées des propriétés physiques et chimiques. Grâce aux connaissances physiques et chimiques combinées obtenues en une seule mesure en temps réel, le chercheur peut obtenir une analyse fiable et complète de l'échantillon, avec un temps de connaissance réduit grâce à une manipulation moindre de l'échantillon et une acquisition de données avec un niveau de confiance élevé, grâce à la corrélation des mesures différentielles. Tous les modes AFM sont inclus en standard Tous les modes AFM sont inclus dans l'ensemble de base de SignatureSPM : Microscopie à sonde Kelvin, Microscopie de force à réponse piézoélectrique, Microscopie de force magnétique, Nanolithographie, Mesures de courbes de force. Spectromètre à large gamme optimisé pour Raman et la photoluminescence Conçu pour l'imagerie spectroscopique, le spectromètre du SignatureSPM assure une perte de lumière minimale grâce à sa conception achromatique et à son impressionnante réflectivité lumineuse de 95 %. Il offre une capacité unique de réaliser des mesures Raman et PL précises et efficaces grâce à sa conception polyvalente qui peut accueillir jusqu'à 3 réseaux pour couvrir une large gamme spectrale. Mesures véritablement co-localisées avec "Probe away" (sonde éloignée) La commande logicielle "Probe away" éloigne le cantilever de la surface de l'échantillon, ce qui permet d'obtenir des cartes Raman confocales totalement dégagées. Avec la commande "Probe back", la pointe de l'AFM revient automatiquement à son point d'analyse précédent sur la surface de l'échantillon.