Les systèmes d'inspection optique DM8000 M et DM12000 M favorisent la prise de décision en matière de qualité des produits et permettent de gagner du temps grâce à une meilleure compréhension des échantillons.
Ces microscopes d'inspection permettent une inspection et une analyse rapides et fiables de matériaux tels que les semi-conducteurs et les plaquettes, ce qui vous permet d'effectuer un contrôle de la qualité et de détecter rapidement les défauts.
Révélez les détails cachés
Détectez les défauts et procédez rapidement à l'examen des échantillons pour une meilleure analyse et une prise de décision plus efficace.
Optimisez votre façon de travailler
L'automatisation et la facilité d'utilisation minimisent le besoin de réglages, ce qui permet de gagner un temps précieux pendant le processus d'inspection.
Garantir le confort de l'utilisateur dans un environnement sûr et contrôlé
Travailler dans une position détendue, dans un confort optimal tout au long du processus d'inspection, pour une productivité accrue.
Détecter et analyser diverses structures et défauts, notamment les rayures et la contamination, sur vos échantillons. Choisissez parmi un éventail de méthodes d'éclairage et de contraste, notamment le fond clair, le fond noir, la polarisation, le contraste interférentiel différentiel (CID), la fluorescence (Fluo) et l'infrarouge (IR), pour réaliser des inspections rapides et fiables. Améliorer la résolution avec la lumière ultraviolette (UV).
Des informations supplémentaires sur la surface grâce à l'éclairage oblique. La combinaison avec les UV permet d'accentuer le contraste.