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Spectromètre XRF 2830 ZTpour analyse de l'eau
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Caractéristiques
- Type
- XRF
- Application
- pour analyse de l'eau
Description
Analyse avancée par WDXRF
L'analyseur de wafer 2830 ZT à fluorescence X à dispersion de longueur d'onde dispose des dernières technologies en matière de mesure d'épaisseur de film et de composition. Conçu spécifiquement pour l'industrie des semi-conducteurs et du stockage de données, l'analyseur de wafer 2830 ZT de PANalytical permet de déterminer la composition des couches, leur épaisseur, le niveau des dopants et l'uniformité de la surface pour une large gamme de wafers jusqu'à 300 mm.
Catalogues
2830 ZT
12 Pages
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.