Logiciel de laboratoire Data Collector
de contrôled'acquisition

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Caractéristiques

Applications
de laboratoire
Fonction
de contrôle, d'acquisition

Description

La boîte à outils centrale d'acquisition de données Data Collector est la boîte à outils centrale d'acquisition de données pour les instruments XRD polyvalents de Malvern Panalytical. Qu'il s'agisse d'une expérience de base de diffraction sur poudre, de diffraction in situ pour étudier les changements de phase ou d'étudier des films minces, des nanomatériaux ou des objets solides, Data Collector aide à configurer les expériences pour obtenir les meilleurs résultats. Un flux de travail cohérent pour les mesures 0D, 1D, 2D et 3D Les plateformes Malvern Panalytical Empyrean, X'Pert³ MRD (XL) et X'Pert³ Powder offrent une gamme d'applications telles que l'identification et la quantification des phases, la diffusion des rayons X aux petits et grands angles, la fonction de distribution de paires, la tomographie assistée par ordinateur et diverses techniques d'analyse des couches minces. Data Collector fournit un flux de travail unique, logique et sans ambiguïté pour toutes ces applications. Le passage d'applications de détecteurs ponctuels ou linéaires à des mesures de détecteurs surfaciques ne nécessite pas l'exécution de différents progiciels d'acquisition de données ; tout peut se faire dans Data Collector. Configuration et exécution faciles des expériences Data Collector contient des fonctions avancées qui permettent de configurer l'expérience adéquate pour produire les bons résultats. Data Collector contient une bibliothèque de routines de mesure prédéfinies pour les balayages thêta-2 thêta, les balayages 2 thêta uniquement ainsi que les balayages oméga-2 thêta. Le positionnement des échantillons est également géré de manière pratique, qu'il s'agisse de phi, chi, X, Y ou Z : ils peuvent être facilement programmés et automatiquement optimisés par Data Collector. Les capacités de programmation par lots du Data Collector permettent également de mettre en place des routines de mesure contenant diverses analyses de diffraction des rayons X en combinaison avec le positionnement et l'optimisation des échantillons.

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Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.