Appareil de mesure d'épaisseur MPLS-DM series

pour applications médicalesen continuen ligne

Présentation produit
La famille de capteurs ChromaLine de STIL exploite la technologie confocale chromatique pour des mesures non invasives en ligne et des contrôles industriels à grande vitesse. La version MPLS-DM offre 180 points de mesure alignés sur des longueurs de ligne de 1,34 à 12,85 mm, conçue pour un usage continu et une maintenance minimale.

Description
La MPLS-DM réalise des mesures de distance et d'épaisseur haute résolution avec des fréquences de 200 Hz à 2 kHz en mode standard et jusqu'à 6 kHz sur une plage de mesure réduite. Le capteur extrait des distances sur la base de pics (premier/dernier et intermédiaires) et calcule l'épaisseur à partir de pics multiples. La tête optique intègre uniquement des composants passifs pour une fiabilité industrielle.

Avantages

• Mesure non contact polyvalente pour matériaux réfléchissants (métaux, verre, plastiques, peintures, liquides)
• Tête optique industrielle composée de composants passifs pour longue durée de vie
• Débit élevé : jusqu'à 360 000 points mesurés/seconde à 2 kHz ; >1 000 000 points/seconde à 6 kHz sur applications dédiées
• Modes de mesure distance et épaisseur multi-pics
• Haute résolution axiale et faible bruit pour le contrôle de surface et d'épaisseur fin
• SDK et commandes de protocole pour intégration facilitée
• Acquisitions synchronisées via entrée encodeur pour process dynamiques
• Communication Gigabit Ethernet pour transfert rapide des données

Applications

• Contrôle du verre automobile
• Production de contenants et emballages en verre
• Industrie véhicules électriques (mesures de batteries)
• Contrôle roll-to-roll et films (transparents et opaques, électronique flexible)
• Industrie électronique (PCB)
• Industrie des semiconducteurs (plaquettes de silicium)
• Électronique grand public
• Médical (composants et dispositifs)
• Micromécanique et ingénierie de précision
• Aéronautique / spatial (inspection de surface et assemblage)
• Horlogerie et micro-assemblage
• Intégration robotisée pour contrôle automatisé

Versions
Les capteurs ChromaLine sont disponibles en cinq versions standard MPLS-DM : NANOVIEW, MicroView, WireView, DeepView mk2 et SuperView, chacune optimisée selon la longueur de ligne et la plage de mesure.

Caractéristiques techniques (contrôleur / général)
Contrôleur : MPLS-DM
Technologie : Confocal chromatique
Source lumineuse : LED blanche
Nombre de points : 180
Fréquence de mesure : 200 Hz – 2000 Hz (jusqu'à 6000 Hz avec plage réduite)
Mesure de distance : Pic le plus élevé / Premier / Deuxième / Troisième / Quatrième / Dernier pic
Mesure d'épaisseur : 2 parmi 5 pics
Sortie numérique : Gigabit Ethernet
Synchronisation : Trigger entrée/sortie
Autres E/S : Entrée encodeur (1)
Longueur faisceau fibre : 5 m
Température d'utilisation : 5 °C – 50 °C
Température de stockage : -30 °C – 70 °C
Humidité relative : 5% – 80% HR sans condensation
Indice de protection : IP20
Conformité : EN 61010-1; EN 61326-1
Alimentation : 100–240 Vac
Consommation (max/usuelle) : 120 W / 70 W
Dimensions (mm) : 448,9 x 184 x 497
Masse : 14,5 kg

Caractéristiques techniques (versions capteur - valeurs comparatives)
Modèles / MPLS-DM (NANOVIEW / WIREVIEW / MICROVIEW / DEEPVIEW mk2 / SUPERVIEW) — Codes commande : OPSTM705002 (NANOVIEW), OPSTM710002 (WIREVIEW), OPSTM706002 (MICROVIEW), OPST0707002 (DEEPVIEW mk2), OPSTM711001 (SUPERVIEW).
Longueur de ligne (mm) : 1,34 / 1,51 / 1,8 / 4,2 / 12,85
Plage de mesure @2 kHz (mm) : 0,12 / 0,9 / 0,5 / 2,6 / 2
Distance de travail (mm) : 7,4 / 7,8 / 10,1 / 19,5 / 11,3
Ouverture numérique : 0,75 / 0,75 / 0,5 / 0,37 / 0,33
Pente maxi échantillon (°) : ±43 / ±46 / ±30 / ±20 / ±17
Pas (µm) : 7,5 / 8,5 / 10,1 / 23,5 / 71,8
Erreur de linéarité maxi (µm) : ±0,04 / ±0,1 / ±0,08 / ±0,12 / ±0,12
Bruit statique (nm) : 25 / 150 / 100 / 300 / 300
Résolution axiale (µm) : 0,15 / 0,9 / 0,6 / 1,8 / 1,8
Taille du spot (µm) : 2,9 / 3,2 / 3,8 / 8,8 / 27,2
Homogénéité (nm) : 30 / 200 / 125 / 400 / 400
Épaisseur minimale mesurable (µm) : 18 / 110 / 50 / 250 / 300
Longueur / diamètre / poids (mm / mm / g) : NANOVIEW 436,1 / 50 / 2350 ; WIREVIEW 482,5 / 70 / 2850 ; MICROVIEW 427,3 / 50 / 2250 ; DEEPVIEW mk2 428,3 / 60 / 2800 ; SUPERVIEW 397,8 / 60 / 2550
Plage de mesure @4 kHz (mm) : 0,055* / 0,45* / 0,235* / 1,15* / 0,9*
Plage de mesure @6 kHz (mm) : 0,030* / 0,24* / 0,12* / 0,65* / 0,5*
* Valeur préliminaire