Micromanipulateur OmniProbe 350

OmniProbe 350 est un manipulateur à 3 axes, monté sur le port, équipé de moteurs piézoélectriques avec rétroaction en boucle fermée, idéalement adapté à la préparation de routine des lamelles TEM. Un contrôle précis et intuitif vous permet de travailler rapidement et en toute confiance sans risque d'endommagement ou de perte d'échantillon. Vue d'ensemble Basée sur notre 9ème génération de sonde, l'OmniProbe 350 offre un contrôle précis à l'échelle nanométrique à partir d'un encombrement compact, monté sur port, qui minimise les interférences avec les autres détecteurs et accessoires. Grâce à une plate-forme de sonde stable et à des moteurs piézoélectriques sub-nanométriques, notre génération actuelle de sondes présente une faible vibration, une faible dérive et une superbe précision de positionnement, associées à notre interface utilisateur intuitive, où la direction du mouvement est calibrée en fonction de l'image. Le résultat est une performance de premier ordre pour le levage de routine et, lorsqu'il est associé à un porte-grille à inclinaison variable, l'OmniProbe 350 peut créer des échantillons de vue en plan et de TKD sans manipulation directe de la grille ou sans levage complexe en plusieurs étapes. Caractéristiques Linéarité supérieure - La linéarité est une mesure de la déviation de la pointe de la sonde par rapport à la direction de mouvement demandée. Une sonde qui se déplace en ligne droite dans toutes les directions peut.. : S'extraire en toute sécurité, sans heurter le bord de la tranchée Produire des lamelles TEM plus rapidement en utilisant des tranchées fraisées plus petites Interface utilisateur intuitive où les commandes reflètent directement le mouvement de la sonde dans l'image électronique Mouvement continu et fluide - Les flux de travail de préparation des lamelles nécessitent un contact physique de la sonde les flux de préparation des lamelles exigent que la sonde entre en contact physique avec l'échantillon et un mouvement fluide permet de le faire sans risque de chute ou d'endommagement de l'échantillon. Mouvement précis avec positions mémorisées