TopMap Micro.View® est un profilomètre optique compact et facile à utiliser. Ce système de métrologie combine des performances exceptionnelles et un prix abordable. Avec une plage de mesure Z étendue de 100 mm et la technologie de balayage continu CST, Micro.View® mesure des topographies complexes avec une résolution nanométrique. Cette configuration de table facile à mettre en œuvre comprend une électronique intégrée, le Focus Finder intelligent simplifiant et accélérant la procédure de mesure
Points forts
Mesure sans contact de finition de surface dans une configuration compacte
Topographie 3D, rugosité et texture
Plage de mesure Z 100 mm avec technologie de balayage continu CST
Excellente résolution latérale, micrométrique
Choisissez parmi les objectifs spécifiques à l'application
L'outil de recherche automatisé gagne du temps et évite les erreurs
Isolation antivibratoire intégrée pour des mesures stables à tout moment
Métrologie de surface compacte et performante
Bénéficiez de la technologie optionnelle de compensation environnementale ECT, garantissant des résultats de mesure fiables et précis même en environnement de production bruyant et difficile. Micro.View® est l'instrument de contrôle qualité rentable pour l'inspection de surfaces de précision dans la fabrication et la recherche.