Profilomètre optique TopMap Micro.View®
polyvalent3Dpar topographie

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Caractéristiques

Type
optique
Applications
polyvalent
Technique d'observation
3D, par topographie
Configuration
de paillasse
Autres caractéristiques
haute résolution

Description

TopMap Micro.View® est un profilomètre optique compact et facile à utiliser. Ce système de métrologie combine des performances exceptionnelles et un prix abordable. Avec une plage de mesure Z étendue de 100 mm et la technologie de balayage continu CST, Micro.View® mesure des topographies complexes avec une résolution nanométrique. Cette configuration de table facile à mettre en œuvre comprend une électronique intégrée, le Focus Finder intelligent simplifiant et accélérant la procédure de mesure Points forts Mesure sans contact de finition de surface dans une configuration compacte Topographie 3D, rugosité et texture Plage de mesure Z 100 mm avec technologie de balayage continu CST Excellente résolution latérale, micrométrique Choisissez parmi les objectifs spécifiques à l'application L'outil de recherche automatisé gagne du temps et évite les erreurs Isolation antivibratoire intégrée pour des mesures stables à tout moment Métrologie de surface compacte et performante Bénéficiez de la technologie optionnelle de compensation environnementale ECT, garantissant des résultats de mesure fiables et précis même en environnement de production bruyant et difficile. Micro.View® est l'instrument de contrôle qualité rentable pour l'inspection de surfaces de précision dans la fabrication et la recherche.

VIDÉO

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.