Aperçu du produitLe VISILAB V2 est un système de métrologie statistique automatisé certifié UE pour pièces et flans. Il remplace la mesure manuelle en fournissant un rapport final permettant la libération d'un lot en contrôle qualité. Le système prend en charge les flans et les pièces en circulation.
Caractéristiques- Modèle : VISILAB V2
- Capacité d'inspection : métrologie automatisée de pièces et de flans
- Débit : jusqu'à 250 pièces ou flans en 30 minutes
- Paramètres mesurés : diamètre extérieur, ovalité, hauteur du bord, planéité, conductivité, épaisseur de placage, masse
- Compatibilité des matériaux : bimétal, cuivre, acier, nickel, aluminium
- Confort d'utilisation : caméras auto-étalonnantes, interface tactile simple, pas de réglage nécessaire pour pièces en circulation
- Dimensions : 1 860 x 650 x 1 500 mm
- Masse : env. 300 kg
- Options : mesure des propriétés électromagnétiques, analyse d'épaisseur de champ
Autres solutions d'inspection (aperçu)- VISIA – inspection avancée des flans et pièces
- Débit : jusqu'à 200 000 pièces ou flans par heure
- Polyvalence : compatible avec plusieurs formes (ronde, ondulée, bimétallique) et matériaux (nickel, alliages de cuivre, acier, aluminium)
- Précision d'inspection : inspection 100 % de surface avec caméras matricielles 4 couleurs
- Exploitation : interface tactile intuitive et architecture ouverte pour maintenance aisée
Caractéristiques techniques- Modèle : VISILAB V2
- Certification : outil de mesure automatisé de contrôle statistique certifié UE
- Débit typique : jusqu'à 250 pièces ou flans en 30 minutes
- Paramètres mesurés : diamètre extérieur ; ovalité ; hauteur du bord ; planéité ; conductivité ; épaisseur du placage ; masse
- Compatibilité des matériaux : bimétal, cuivre, acier, nickel, aluminium
- Interface utilisateur : écran tactile
- Étalonnage : caméras auto-étalonnantes
- Installation : pas de réglage requis pour pièces en circulation
- Dimensions (L x P x H) : 1 860 x 650 x 1 500 mm
- Masse : env. 300 kg
- Mesures optionnelles : mesure des propriétés électromagnétiques ; analyse d'épaisseur de champ