Diffractomètre SAXS Xeuss 3.0

USAXSWAXSpour la recherche

La ligne de faisceau de nouvelle génération pour le laboratoire Flexibilité maximale Performance ultime Beaucoup d'espace pour l'environnement des échantillons Le Xeuss 3.0 est l'instrument de dernière génération de la famille Xeuss, qui a fait ses preuves, et il est déjà installé dans les principaux centres de recherche du monde entier. Il intègre toutes les dernières innovations de Xenocs pour plus de capacités, de flexibilité et de facilité d'utilisation. Taille, structure, forme, orientation... Caractérisez la nanostructure de la matière molle et des nanomatériaux en utilisant la technique SAXS/WAXS et USAXS en mode transmission ou incidence rasante. - Distribution de la taille des particules allant de quelques nanomètres à plus de 350 nm de diamètre - Taux de cristallisation et structure lamellaire des polymères semi-cristallins - Analyse de la taille et de la forme des tensioactifs ou des protéines en solution - Organisation et orientation des nanomatériaux à l'échelle atomique ou nanométrique, dans des phases en vrac ou sur des surfaces - Études de ségrégation de phase des alliages - Études in situ des transitions de nanostructures Flexibilité maximale Fournir des outils structurels à une large communauté d'utilisateurs avec une capacité d'exploitation à distance complète et un accès à une gamme unique d'échelles de longueur. Le développement et la conception de nanomatériaux avancés nécessitent une caractérisation sur une large gamme d'échelles de longueur. Le Xeuss 3.0 offre une telle capacité de mesure sur jusqu'à 5 ordres de grandeur en q (vecteur d'onde) grâce à un changement de configuration entièrement motorisé. Tout utilisateur formé peut ainsi faire fonctionner le système à distance sur toute sa plage de mesure pour un échantillon ou un lot d'échantillons donné.