Diffractomètre SAXS Xeuss 3.0
USAXSWAXSde laboratoire

diffractomètre SAXS
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Caractéristiques

Type
SAXS, USAXS, WAXS
Application
de laboratoire, pour la recherche

Description

La ligne de faisceaux de la prochaine génération pour le laboratoire Une flexibilité maximale La performance ultime Beaucoup d'espace pour l'environnement de l'échantillon Le Xeuss 3.0 est l'instrument de dernière génération de la famille Xeuss, qui a fait ses preuves, et est déjà installé dans des installations de recherche de pointe dans le monde entier. Il intègre toutes les dernières innovations de Xenocs pour plus de capacités, de flexibilité et de facilité d'utilisation. Taille, structure, forme, orientation... Caractériser la nanostructure de la matière molle et des nanomatériaux en utilisant la technique SAXS/WAXS et USAXS en mode transmission ou en incidence rasante. - Distribution de la taille des particules allant de quelques nanomètres à plus de 350 nm de diamètre - Taux de cristallisation et structure lamellaire des polymères semi-cristallins - Analyse de la taille et de la forme des agents de surface ou des protéines dans les solutions - Organisation et orientation des nanomatériaux à l'échelle atomique ou nanométrique, dans les phases de masse ou sur les surfaces - Études de ségrégation de phase des alliages - Études in situ des transitions des nanostructures

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.