ZEISS LSM 900, le microscope confocal à balayage laser (CLSM) de ZEISS, est l'instrument dont vous aurez besoin pour l'analyse des matériaux. Caractérisez la topographie de surfaces de microstructures 3D dans votre laboratoire ou votre installation multi-utilisateurs. Le LSM 900 permet une imagerie et des analyses tridimensionnelles précises de nanomatériaux, de métaux, de polymères et de semi-conducteurs. Étendez votre microscope optique vertical, ZEISS Axio Imager.Z2m ou votre microscope optique inversé ZEISS Axio Observer 7, avec un module de balayage confocal. Combinez toutes les techniques de contraste en microscopie optique essentielles pour les matériaux à topographie de haute précision. Sans avoir besoin de changer de microscope, vous gagnerez du temps lors de la configuration. Bénéficiez d'une acquisition et d'un post-traitement automatisés. Exécutez une imagerie confocale sans contact lors de l'évaluation de la rugosité de surface.
Combinez l'imagerie microscopique et confocale
LSM 900, votre plate-forme confocale haut de gamme, est conçue pour les applications matérielles exigeantes, en 2D et en 3D.
Caractérisez les structures topographiques et évaluez la rugosité de surface avec une imagerie confocale sans contact
Déterminez l'épaisseur des revêtements et des films minces de manière non destructive
Utilisez toute une gamme de techniques d'imagerie, y compris la polarisation et la fluorescence en contraste optique ou en mode confocal
Caractérisez les spécimens métallographiques dans la lumière réfléchie ou dans une section mince de roche ou de polymère dans la lumière transmise
Enquêtez efficacement sur votre échantillon