Combinez les performances d'imagerie et d'analyse d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution (FE-SEM) avec la capacité de traitement d'un faisceau d'ions focalisés (FIB) de nouvelle génération. Cette solution convient dans un environnement à utilisateurs multiples ou dans un laboratoire universitaire ou industriel. Bénéficiez du concept de plateforme modulaire de ZEISS Crossbeam et faites évoluer votre système en fonction de vos besoins, par exemple grâce au LaserFIB pour l'enlèvement massif de matière. Pendant l'usinage, l'imagerie ou l'analyse en 3D, Crossbeam accélère vos applications FIB.
Maximisez vos informations MEB
Augmentez le débit de vos échantillons FIB
Bénéficiez de la meilleure résolution 3D pour votre analyse FIB-SEM
Maximisez vos informations MEB
Profitez d'une résolution des MEB jusqu'à 30 % supérieure à basse tension grâce au décélérateur tandem, une caractéristique de la nouvelle optique électronique ZEISS Gemini.
Obtenez de véritables informations sur l'échantillon à partir de vos images MEB haute résolution grâce aux optiques électroniques Gemini.
Comptez sur les performances de MEB de ZEISS Crossbeam pour acquérir des images en 2D sensibles à la surface ou lors de la tomographie en 3D.
Bénéficiez de la haute résolution, du contraste marqué et de rapports signal/bruit élevés, même avec des tensions d'accélération très faibles.
Caractérisez votre échantillon avec exhaustivité grâce à une gamme de détecteurs. Obtenez un contraste net des matériaux grâce au détecteur unique Inlens EsB.
Examinez les spécimens non conducteurs, non perturbés par des artefacts de charge.