Microscope à rayons X Xradia Versa

de laboratoire3Dau sol

Les microscopes à rayons X 3D (XRM) ZEISS Xradia Versa, extrêmement polyvalents, offrent une image en 3D et des données de qualité supérieure pour de très nombreux matériaux et environnements de travail. Les XRM Xradia Versa proposent un grossissement en deux étapes basé sur une optique calibrée sur synchrotron et sur la technologie révolutionnaire RaaD™ (résolution à distance) pour obtenir une haute résolution, même à de grandes distances de travail. Il s'agit là d'une amélioration conséquente par rapport à la micro-tomographie classique. De plus, l'imagerie non destructive préserve et prolonge l'utilisation de vos précieux échantillons et permet ainsi les observations en 4D et in situ. Doté des capacités énergétiques supérieures de l'objectif 40X Prime, ZEISS Xradia 630 Versa repousse comme jamais auparavant les limites de l'imagerie submicronique. Le système atteint des performances de résolution inégalées de 450-500 nm sur toute la gamme d'énergie, de 30 kV à 160 kV, révélant de nouvelles possibilités pour vos recherches. NavX guide les utilisateurs à travers des flux de tâches automatisés grâce aux informations issues de systèmes intelligents et fournit ainsi des résultats avec simplicité et efficacité. Basé sur l'intelligence artificielle, DeepScout change la donne en matière de compréhension de votre échantillon, avec un rendement 100 fois plus rapide. Augmentez les performances de votre Xradia 620 ou 630 Versa et approfondissez vos explorations grâce à leurs fonctionnalités avancées. Améliorez le contraste d'absorption pour les matériaux à faible Z ou à Z similaire à l'aide du Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer).