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Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,6, 0,9 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme FE-SEM révolutionnaire intègre l'imagerie à multiples ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire intègre l'imagerie multifacette, ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm
... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! *La photo de l'appareil montre la configuration ...
Hitachi High-Technologies
... connaissance qui va au-delà des conditions et des recettes prédéfinies de base. Sa facilité d'utilisation ouvre une nouvelle voie pour la recherche sur les matériaux, le développement et les domaines qui dépassent notre imagination. Vue ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Largeur: 330 mm
... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre la facilité ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... l'orientation de l'échantillon entièrement intégré pour l'effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d'échantillons TEM pour des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. Capacité de triple faisceau, pour des résultats ...
Hitachi High-Technologies
Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm
... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée pour une véritable ...
Hitachi High-Technologies
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