Microscopes de paillasse Bright

1 société | 8 produits
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microscope TEM
microscope TEM
JEM-ARM200F NEOARM

Résolution spatiale: 0,1, 0,11, 0,25, 0,07, 0,16 nm

... Le monochromateur à double filtre Wien a été récemment développé pour JEM-ARM200F, il permet de réaliser une analyse EELS à ultra haute résolution en énergie à l'échelle atomique. Configuration Double filtre Wien avec le système "Spot-IN et Spot-Out" Le ...

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Jeol
microscope TEM
microscope TEM
JEM-1400Flash

Grossissement: 10 unit - 1 500 000 unit
Résolution spatiale: 0,2, 0,14 nm

... permet de ne pas saturer le PC. Grâce à « Picture Overlay », la microscopie corrélative n’aura jamais été aussi aisée. Picture Overlay permet de superposer en temps réel sur l’image TEM une image d’optique ou de fluorescence. ...

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Jeol
microscope électronique à transmission
microscope électronique à transmission
JEM-120i

Grossissement: 50 unit - 1 200 000 unit
Résolution spatiale: 0,2, 0,14 nm
Largeur: 840 mm

... Les microscopes électroniques à transmission (MET) avec une tension d'accélération de 120 kV sont largement utilisés dans les domaines des matériaux mous tels que la biologie et les polymères. Nous avons récemment développé le JEM-120i ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
JSM-IT810

... La polyvalence et la haute résolution spatiale rencontrent l'automatisation avec le FE-SEM de la série JSM-IT810. L'automatisation sans codage de l'imagerie et de l'analyse EDS est intégrée pour un flux de travail rationalisé et efficace. De nouvelles ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
JSM-IT800

Résolution spatiale: 0,5 nm - 3 nm

... Le microscope électronique à balayage JSM-IT800, équipé d’un canon à effet de champ Schottky In-Lens (brevet JEOL) et d’un spectromètre à rayons X à dispersion d’énergie (EDS), présente une nouvelle interface graphique permettant l’acquisition ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
JCM-7000 NeoScope™

... innovantes : La fonction de Zeromag (observation instantanée) pour une transition en douceur des images du microscope optique aux images du microscope électronique à balayage (MEB), La fonction Live Analysis (analyse ...

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Jeol
microscope SEM
microscope SEM
JSM-IT510 InTouchScope™

Grossissement: 150, 10 000, 100, 500, 5 000 unit
Résolution spatiale: 3, 15 nm

... Les microscopes électroniques à balayage (MEB) sont des outils indispensables tant pour la recherche que pour le contrôle qualité des pièces sur les sites de fabrication. Dans ces domaines, les mêmes réglages doivent être effectués à ...

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Jeol
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
JIB-4700F

Grossissement: 20 unit - 1 000 000 unit
Résolution spatiale: 4 nm

La demande pour des appareils permettant de révéler la complexité des nanomatériaux dans leur structure 3D a conduit JEOL à développer ce nouveau multibeam : JIB-4700F. Les axes de développement se sont concentrés autour de la préparation rapide de lames ...

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Jeol
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