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Résolution spatiale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm
... Le NX2000 est un FIB-SEM optimisé pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs (analyse des défauts avec importation de coordonnées KLARF, extraction de lamelles TEM, développement de dispositifs). Avec une course X,Y de 205 x 205 mm, la ...
... une grande zone de balayage, une conception d'expérience flexible et une intégration exceptionnelle avec des systèmes de microscopie optique avancés. La configuration, l'alignement et le réajustement automatisés des paramètres du système ...
Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons TEM ...
Grossissement: 60, 100, 20, 40 unit
Résolution spatiale: 400 nm - 750 nm
... Le DeepSIM s'appuie sur une technique robuste de SIM à réseau multi-spots qui permet d'atteindre une résolution XY de 100 nm, soit une résolution spatiale deux fois supérieure à celle de la microscopie à champ large Épaisseur ...
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