Microscope SEM SU9000
de laboratoirehaute résolution

microscope SEM
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Caractéristiques

Type
SEM
Applications
de laboratoire
Autres caractéristiques
haute résolution
Grossissement

3 000 000 unit

Résolution spatiale

0,4 nm

Description

La source Cold Field Emission est idéale pour l'imagerie haute résolution avec une source de petite taille et une diffusion d'énergie réduite. La technologie innovante du canon CFE constitue le nec plus ultra des FE-SEM avec une luminosité et une stabilité de faisceau supérieures, permettant une imagerie haute résolution et une analyse élémentaire de haute qualité. La conception unique de l'objectif permet de réaliser des EELS et de la diffraction. Le SU9000 est le nouveau SEM haut de gamme de HITACHI. Il est doté d'une optique électronique unique, l'échantillon étant placé dans un espace entre les parties supérieure et inférieure de la pièce polaire de l'objectif. Ce concept "true in-lens", combiné à la nouvelle génération de la technologie d'émission en champ froid de HITACHI, garantit la plus haute résolution possible du système (résolution SE 0,4 nm @ 30 kV, 1,2 nm @ 1 kV sans technologie de décélération du faisceau [0,8 nm avec décélération du faisceau]) et la plus grande stabilité. Pour que ce pouvoir de résolution soit utilisable dans des applications pratiques dans votre laboratoire, le SU9000 utilise une platine d'échantillonnage à entrée latérale ultra-stable similaire aux systèmes TEM haut de gamme et intègre un amortissement des vibrations optimisé et une enceinte fermée pour protéger l'optique électronique du bruit ambiant. De plus, le concept de vide propre du SU9000 offre un niveau de vide dans le canon et la chambre d'échantillon qui est un ordre de grandeur meilleur que la génération précédente, minimisant ainsi les artefacts de contamination de l'échantillon (un nettoyage efficace des échantillons avant l'observation peut être réalisé en utilisant le nettoyeur d'échantillons ZONESEM d'Hitachi).

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