Microscopes HITACHI

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,4, 0,7 nm

... La source d'émission en champ froid est idéale pour l'imagerie à haute résolution, avec une taille de source et une répartition d'énergie réduites. La technologie innovante du canon CFE contribue à l'ultime FE-SEM avec une luminosité ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,8, 0,9 nm

... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme FE-SEM révolutionnaire intègre ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire intègre l'imagerie ...

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 0,8 nm

... et à bien d'autres encore, en fournissant des informations améliorées pour des besoins diversifiés dans le domaine de la microscopie électronique. Découvrez le nanomonde avec le SU7000 ! *La photo de l'appareil montre ...

... deviennent des experts du jour au lendemain. La technologie d'ajustement automatique des axes (auto-calibration) rétablit le microscope dans son "meilleur état" à la demande. Une chambre d'échantillons robuste "draw-out" ...

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Poids: 54 kg
Largeur: 330 mm

... caractérise par des innovations et des technologies de pointe qui redéfinissent les capacités d'un microscope de table. Cette nouvelle génération de microscopes de table Hitachi de longue date (TM) intègre ...

Résolution spatiale: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm

... l'orientation de l'échantillon entièrement intégré pour l'effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d'échantillons TEM pour des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. Capacité de triple faisceau, ...

Résolution spatiale: 2,1, 1,6 nm

... haute résolution afin de répondre aux demandes les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D et pour les analyses TEM et 3DAP. Le nouveau système FIB-SEM d'Hitachi, le NX9000, intègre une disposition optimisée ...

Résolution spatiale: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... préparation d'échantillons TEM à haut débit et de haute qualité pour les applications de pointe. * Option Caractéristiques La détection en temps réel du point final du MEB à haut contraste permet la préparation d'échantillons ...

Résolution spatiale: 0,3 nm

... AFM100 est la plate-forme de microscopie à sonde de nouvelle génération d'Hitachi. Les systèmes AFM100 Plus et AFM100 qui composent cette série ont été conçus pour étendre les capacités et les performances de la microscopie ...