Spectromètre à fluorescence X ZSX Primus IV

compact

En tant que spectromètre de fluorescence X dispersive en longueur d'onde (WDXRF), le nouveau Rigaku ZSX Primus IV permet une détermination quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs, du béryllium (Be) à l'uranium (U), dans une grande variété de types d'échantillons - avec un minimum d'étalons. Nouveau système expert ZSX Guidance, logiciel XRF ZSX Guidance vous aide dans tous les aspects de la mesure XRF et de l'analyse des données. Une analyse précise ne peut-elle être effectuée que par des experts ? Non, c'est du passé. Le logiciel ZSX Guidance, avec l'expertise XRF intégrée et le savoir-faire d'experts qualifiés, prend en charge les réglages sophistiqués. Les opérateurs n'ont qu'à saisir les informations de base concernant les échantillons, les composants de l'analyse et la composition de l'étalon. Les lignes mesurées avec le moins de chevauchement possible, les arrière-plans optimaux et les paramètres de correction (y compris les chevauchements de lignes) sont automatiquement définis à l'aide de spectres qualitatifs. Performance XRF exceptionnelle pour les éléments légers avec optique inversée pour une fiabilité supérieure Le ZSX Primus IV est doté d'une configuration innovante d'optique inversée. Il n'est plus nécessaire de s'inquiéter d'un trajet de faisceau contaminé ou d'un temps d'arrêt dû à l'entretien de la chambre d'échantillon. La géométrie de l'optique au-dessus élimine les problèmes de nettoyage et augmente le temps de fonctionnement. Offrant des performances supérieures et la flexibilité nécessaire pour analyser les échantillons les plus complexes, le spectromètre WDXRF ZSX Primus IV est doté d'un tube de 30 microns, le tube à fenêtre terminale le plus fin disponible dans l'industrie, pour des limites de détection exceptionnelles des éléments légers (low-Z).