Spectromètre de masse ZSX Primus400

à fluorescence Xhaute résolution

Le spectromètre de fluorescence X dispersive en longueur d'onde (WD-XRF) ZSX Primus 400 de Rigaku, unique en son genre, a été spécialement conçu pour traiter des échantillons très grands et/ou très lourds. Acceptant des échantillons jusqu'à 400 mm de diamètre, 50 mm d'épaisseur et 30 kg de masse, ce système est idéal pour l'analyse de cibles de pulvérisation, de disques magnétiques, ou pour la métrologie de films multicouches ou l'analyse élémentaire d'échantillons de grande taille. XRF avec système d'adaptateur d'échantillon personnalisé Ce spectromètre WDXRF peut s'adapter à différents types d'échantillons et à vos besoins d'analyse spécifiques. Il s'adapte à différentes tailles et formes d'échantillons à l'aide d'adaptateurs optionnels (fabriqués sur commande). Avec un point de mesure variable (de 30 mm à 0,5 mm de diamètre, avec une sélection automatique en 5 étapes) et une capacité de cartographie avec des mesures multipoints pour vérifier l'uniformité de l'échantillon, cet instrument d'une souplesse unique peut rationaliser considérablement vos processus de contrôle de la qualité. XRF avec caméra et éclairage spécial en option La caméra en temps réel optionnelle permet de visualiser la zone d'analyse dans le logiciel. L'opérateur est totalement sûr de ce qui est mesuré. Capacités analytiques traditionnelles du WDXRF Toutes les capacités analytiques d'un instrument traditionnel sont conservées dans cette variante "grand échantillon". Analyse du béryllium (Be) jusqu'à l'uranium (U) par spectroscopie WDXRF haute résolution et haute précision, des solides aux liquides et des poudres aux couches minces. Analyse de larges gammes de composition (ppm à dizaines de pourcent) et d'épaisseurs (sub Å à mm).