Microscope Raman Innova-IRIS

AFMpour la recherche en matériauxde paillasse

Innova-IRIS combine les performances AFM de pointe et les sondes TERS exclusives à Bruker pour offrir la seule solution complète et garantie de spectroscopie Raman améliorée par les pointes (TERS) au monde. Elle s'intègre parfaitement au système micro-Raman inVia de Renishaw tout en préservant les capacités de chaque composant séparé. Il en résulte une plate-forme productive et totalement intégrée pour la cartographie corrélée des propriétés à l'échelle micro et nanométrique, qui étend les limites des applications AFM à la nanospectroscopie et aux analyses nanochimiques. Colocalisé AFM et microscopie Raman Fournit des TERS de haute performance avec des capacités SPM complètes. Propriétaire Sondes TERS Ne présentent aucune interférence spectrale pour une résolution spatiale maximale et un TERS garanti. Simplifié matériel et logiciel Réduire la complexité des installations TERS traditionnelles. Conçu spécifiquement pour permettre le TERS Les publications prouvent qu'une géométrie de réflexion hors axe est la meilleure solution pour maximiser la capture de la lumière tout en tenant compte des effets d'ombre et de polarisation de la pointe. L'Innova-IRIS utilise une nouvelle architecture optique qui accède à la jonction pointe-échantillon par la face avant de la sonde pour fournir un chemin optique idéal sans obstructions. L'intégration conjointe de l'AFM Bruker Innova à balayage d'échantillon et du système Renishaw inVia Micro-Raman conserve de manière unique l'alignement du "point chaud" optique pendant le balayage pour répondre aux exigences rigoureuses de l'imagerie TERS intégrée. L'intégrité et le positionnement de la pointe sont préservés pendant les longues durées d'intégration du signal requises pour une recherche aussi sensible.