Microscope optique JPK NanoWizard® ULTRA Speed 3

à force atomiqueSTMbiologique

Le BioAFM NanoWizard® ULTRA Speed 3 de Bruker établit de nouvelles normes en matière de vitesse et de performance. Des fonctions d'automatisation avancées et une vitesse de balayage sans précédent de 1 400 lignes par seconde ont été combinées dans un seul instrument, qui peut être intégré de manière transparente dans des techniques avancées de microscopie optique et de super-résolution. Le système fournit des mesures corrélées d'échantillons et une caractérisation nanomécanique complète d'une large gamme d'échantillons de matière molle et de biologie vivante. Ses capacités de balayage et d'analyse rapides et automatisées maximisent le débit et offrent des performances exceptionnelles. Automatisation Simplicité d'utilisation, productivité accrue Les procédures automatisées, de la configuration à l'étalonnage, en passant par le balayage et l'analyse des données, permettent de réaliser des expériences autorégulées, d'obtenir des données cohérentes de haute qualité et de maximiser le rendement. Numérisation rapide Vitesse de balayage stable de 1 400 lignes/s Visualisation des mécanismes moléculaires et cellulaires dynamiques et quantification de la cinétique et des taux de réaction en conjonction avec une optique avancée. Optique Intégration dans les techniques optiques avancées et de super-résolution Microscopie corrélative avec importation facile d'images optiques, algorithmes d'étalonnage avancés et routines de visualisation pour une corrélation précise des données AFM et optiques. Caractéristiques Performances de niveau supérieur NanoWizard ULTRA Speed 3 propose une multitude de nouvelles fonctionnalités avancées : Configuration, alignement et réajustement entièrement automatisés des paramètres du système, pour une utilisation facile et une productivité accrue Capteur d'accélération 3D de Bruker et technologie feed-forward pour une stabilité inégalée dans le mouvement de balayage de la pointe et une bande passante de rétroaction la plus élevée pour un excellent suivi de la surface