Microscope AFM NanoWizard® NanoOptics
optiqueà champ procheSNOM

microscope AFM
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Caractéristiques

Type
optique, Raman, AFM, à champ proche, SNOM
Applications
de laboratoire
Technique d'observation
à fluorescence
Configuration
de paillasse

Description

L'AFM NanoWizard® NanoOptics est optimisé pour une large gamme d'applications allant de l'imagerie optique à l'échelle nanométrique par ouverture et SNOM de type diffusion à des expériences impliquant des interactions de la lumière avec l'échantillon telles que l'absorption, l'excitation, les effets non linéaires et le quenching. À la pointe de la technologie Expériences optiques en champ proche Collecte de photons uniques et résolution inférieure à la longueur d'onde. Idéal pour l'étude des propriétés optiques des surfaces, des points quantiques et des métamatériaux. Unique en son genre Imagerie optique à l'échelle nanométrique Intégration transparente avec les techniques avancées de fluorescence, la spectroscopie Raman et les systèmes de comptage de photons uniques corrélés dans le temps. Port intégré pour les applications SNOM. Nanomanipulation Expériences définies par l'utilisateur Données corrélatives. Résolution spatiale la plus élevée dans la gamme des nanomètres. Conçu pour la stabilité et les applications liquides. Idéal pour les applications BioTERS. CARACTÉRISTIQUES Technologie de pointe pour l'étude des phénomènes nanooptiques La nouvelle tête NanoWizard® NanoOptics offre un excellent accès physique et optique à l'échantillon par le haut et le bas ainsi que par l'avant et le côté, même lorsque la tête et le condenseur sont en place. En outre, elle dispose d'un port intégré pour les applications SNOM à fibre. La stabilité et la reproductibilité du positionnement et du balayage de la pointe du SPM étant essentielles pour les applications nécessitant la collecte de photons uniques sur une longue période, le système a été optimisé à cet effet. L'amélioration du contrôle en boucle fermée sur 5 ou 6 axes et la fréquence de résonance du scanner la plus élevée en z permettent d'obtenir des performances de scanner qui n'étaient pas disponibles auparavant dans un AFM commercial. Cela garantit la meilleure qualité de données pour l'imagerie et les mesures de force dans l'air et les liquides.

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