Microscope AFM Nexus™
de laboratoirenanoscopede paillasse

Microscope AFM - Nexus™  - Bruker Nano Surfaces - de laboratoire / nanoscope / de paillasse
Microscope AFM - Nexus™  - Bruker Nano Surfaces - de laboratoire / nanoscope / de paillasse
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Caractéristiques

Type
AFM
Applications
de laboratoire
Technique d'observation
nanoscope
Configuration
de paillasse
Options et accessoires
motorisé

Description

Dimension Nexus™ offre une combinaison idéale de qualité des données, de flexibilité des expériences et de facilité d'utilisation dans un système de faible encombrement. Il intègre les innovations marquantes du contrôleur NanoScope® 6 de Bruker, la technologie PeakForce Tapping® et le logiciel d'imagerie auto-optimisant ScanAsyst® Plus pour offrir plus de fonctionnalités que les systèmes concurrents de sa catégorie. Adapté aux expériences de routine comme aux expériences personnalisées et facilement évolutif sur le terrain, Dimension Nexus est à la fois un excellent système de démarrage et un complément parfait à tout laboratoire AFM en plein essor. Le meilleur de sa catégorie performance Permet l'imagerie à résolution atomique ou moléculaire. Ultime polyvalence et valeur Offre une gamme étendue de modes AFM. Programmable motorisée programmable Augmente la productivité pour des résultats prêts à être publiés. Caractéristiques Performances de base et valeur ajoutée pour chaque numérisation Nexus génère systématiquement des résultats très précis, reproductibles et prêts à être publiés pour une large gamme de types d'échantillons dans les applications de la recherche et de l'industrie. Assurer une haute performance La combinaison unique de matériel, de logiciels et d'accessoires de pointe est au cœur des capacités de ce système, le meilleur de sa catégorie : Une suite complète de modes de prélèvement PeakForce pour l'imagerie à haute résolution et la cartographie quantitative des propriétés mécaniques, électriques et chimiques sur la plus large gamme d'échantillons Contrôleur NanoScope 6 de dernière génération avec un niveau de bruit réduit, des vitesses plus élevées et une polyvalence maximale pour des capacités et une facilité d'utilisation inégalées Scanner à boucle fermée XYZ, structure de pont à compensation de dérive et base de granit intégrée pour des performances sur petits échantillons sur un AFM à accès ouvert et à grand nombre d'échantillons

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VIDÉO

Catalogues

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.