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Microscopes FE-SEM
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microscope électronique à balayage à émission de champSU8700
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,9 nm
... être équipée en option d’un mécanisme de transfert sous gaz inerte. Présentation générale Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ ( FE- SEM) SU7000 ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm
... Un FE- SEM moderne doit non seulement offrir des performances élevées, mais aussi disposer d'une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation à grande échelle, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm
... Des microscopes électroniques à balayage (MEB) puissants et polyvalents, conçus pour offrir des performances élevées, prendre en charge des échantillons de grande taille et répondre aux besoins d'imagerie automatisée ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... à proximité de l'échantillon pour une analyse élémentaire à haute résolution en mode SEM et STEM. Caractéristiques du produit : - Combinaison SEM-STEM avec signal SEM filtré ExB et détection du signal ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,6, 0,9 nm
... Le SU8700 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ Schottky à ultra-haute résolution dans la gamme Hitachi EM de longue date. Cette plateforme FE- SEM ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm
... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission en champ froid à très haute résolution dans la gamme Hitachi EM, déjà ancienne. Cette plateforme CFE- SEM révolutionnaire ...
Hitachi High-Technologies
Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm
... Le FE- SEM moderne exige non seulement des performances élevées, mais aussi une multitude de fonctionnalités, notamment l'observation de zones étendues, l'analyse in situ, la pression variable, l'imagerie à haute résolution ...
Hitachi High-Technologies
... La polyvalence et la haute résolution spatiale rencontrent l'automatisation avec le FE- SEM de la série JSM-IT810. L'automatisation sans codage de l'imagerie et de l'analyse EDS est intégrée pour un flux de travail rationalisé ...
Grossissement: 1 unit - 2 500 000 unit
... Le CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ ( FE- SEM, FEG SEM) à haute résolution et riche en fonctionnalités. Conception ...
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