Microscope électronique à balayage à émission de champ SU8700
de laboratoirepour la rechercheau sol

Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratoire / pour la recherche / au sol
Microscope électronique à balayage à émission de champ - SU8700 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - de laboratoire / pour la recherche / au sol
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Caractéristiques

Type
électronique à balayage à émission de champ
Applications
de laboratoire, pour la recherche
Configuration
au sol
Source d'électrons
Schottky à émission de champ
Type de détecteur
d'électrons rétrodiffusés, d'électrons secondaires, détecteur de rayons X à dispersion d'énergie
Autres caractéristiques
ultra haute résolution, automatisé, à balayage avec pression variable
Grossissement

Max: 2 000 000 unit

Min: 20 unit

Résolution spatiale

0,6 nm, 0,9 nm

Description

Microscopes électroniques à balayage à effet Schottky (FE-SEM) pour l'imagerie à ultra-haute résolution et les travaux d'analyse Idéal pour les utilisateurs qui souhaitent à la fois bénéficier d'une imagerie à ultra-haute résolution et de capacités d'analyse. Distance de travail analytique de seulement 6 mm. Affichage simultané de jusqu’à six canaux d’image grâce à une interface utilisateur à double écran. Les capacités de pression variable, sans nécessiter d’ouvertures supplémentaires, permettent l’imagerie et les analyses sur des échantillons non conducteurs. Automatisation avancée pour des flux de travail optimisés. Source à émission de champ de type Schottky. Amplification du faisceau sur toute la plage et objectif hybride électrostatique-magnétique pour une résolution inférieure au nanomètre sans interaction magnétique avec l’échantillon. Chambre plus spacieuse. Peut accueillir des échantillons mesurant jusqu’à 200 mm de diamètre et 80 mm de hauteur. 18 ports d’accès à la chambre, dont deux ports de câblage dans la porte de la platine, pour des accessoires en option. Optimisé pour l’inspection rapide (haut débit) d’échantillons jusqu’à 150 mm de diamètre. Chargement des échantillons via une chambre d’échange d’échantillons standard de six pouces, pouvant être équipée en option d’un mécanisme de transfert sous gaz inerte. Présentation générale Les microscopes électroniques à balayage à émission de champ (FE-SEM) SU7000 et SU8700 d’Hitachi offrent un équilibre exceptionnel entre imagerie à ultra-haute résolution et capacités analytiques. Conçus pour ces deux fonctions, ces deux instruments partagent les mêmes optiques électroniques haute performance et les mêmes fonctionnalités analytiques, mais se distinguent par la taille de leur chambre et de leur platine. Les modèles SU7000 et SU8700 sont conçus pour prendre en charge un large éventail d’applications. Leur source d’électrons à émission de champ Schottky à haute luminosité, leur capacité d’imagerie multi-signaux en un seul balayage et l’automatisation optionnelle du flux de travail (à l’aide du logiciel EM Flow Creator) garantissent des résultats cohérents et une productivité supérieure.

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VIDÉO

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.