Microscopes au sol HITACHI

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microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU8700

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,9 nm

... Microscopes électroniques à balayage à effet Schottky (FE-SEM) pour l'imagerie à ultra-haute résolution et les travaux d'analyse Idéal pour les utilisateurs qui souhaitent à la fois bénéficier d'une imagerie à ultra-haute résolution ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope CFE-SEM
microscope CFE-SEM
SU8600

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,7, 0,6 nm

... Le SU8600 inaugure une nouvelle ère de microscopes électroniques à balayage à émission de champ froid (CFE-SEM) à ultra-haute résolution au sein de la gamme EM historique d’Hitachi. Cette plateforme CFE-SEM révolutionnaire intègre des ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage à émission de champ
microscope électronique à balayage à émission de champ
SU7000

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 0,9 nm

... exigences et bien plus encore, en fournissant des informations enrichies adaptées aux besoins diversifiés du domaine de la microscopie électronique. Caractéristiques Concept clé 1. Capacité d’imagerie polyvalente Le SU7000 excelle ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
SU3800/3900 Family

Grossissement: 5 unit - 800 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4, 3 nm

... SU3800/3900 est une plateforme de microscopes électroniques à balayage modulaires et conviviaux, dotés de capacités de pression variable dans la chambre. Pourquoi choisir la plateforme SU3800/3900 ? Les microscopes ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope électronique à balayage
microscope électronique à balayage
FlexSEM II

Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm

... Le VP-SEM ultra-compact, disponible au choix en version sur pied ou de table. Conception compacte et flexible Imagerie haute résolution Modes de vide adaptables Platine porte-échantillon à 5 axes Fonctionnement automatisé et convivial Le ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope STEM
microscope STEM
HF5000

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Une résolution spatiale de 0,078 nm en STEM est obtenue, associée à une grande capacité d'inclinaison de l'échantillon et à un ou plusieurs détecteurs EDX à grand angle solide, le tout dans une configuration à objectif unique. Le HF5000 s’appuie sur ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope TEM
microscope TEM
HT7800 Series

Grossissement: 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La série HT7800 est une gamme de microscopes électroniques à transmission (MET) de 120 kV qui allie une acquisition de données de haute qualité et reproductible à une efficacité accrue pour les travaux d’observation. Grâce à l’automatisation ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FE-SEM
microscope FE-SEM
SU3800SE/SU3900SE

Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm

... Des microscopes électroniques à balayage (MEB) puissants et polyvalents, conçus pour offrir des performances élevées, prendre en charge des échantillons de grande taille et répondre aux besoins d'imagerie automatisée conviviale dans les ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope SEM
microscope SEM
SU9000 II

Grossissement: 3 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... Le SU9000 II est une combinaison de MEB à imagerie de surface et de microscope à transmission à balayage (STEM) à résolution de structure intrinsèque, optimisée pour une résolution extrême. Cela est possible grâce à l'optique électronique ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
microscope FIB-SEM
microscope FIB-SEM
NX5000

Résolution spatiale: 60, 4 nm

... intégré de l’orientation de l’échantillon pour l’effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d’échantillons pour microscopie électronique à transmission (TEM) permettant d’obtenir des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. ...

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