Microscope STEM HF5000
TEMde laboratoirepour la recherche en matériaux

Microscope STEM - HF5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - TEM / de laboratoire / pour la recherche en matériaux
Microscope STEM - HF5000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - TEM / de laboratoire / pour la recherche en matériaux
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Caractéristiques

Type
TEM, STEM
Applications
de laboratoire, pour la recherche en matériaux
Technique d'observation
BF-STEM, DF-STEM
Configuration
au sol
Source d'électrons
à émission de champ froid
Type de détecteur
d'électrons secondaires
Autres caractéristiques
haute résolution, automatisé, pour nanotechnologie
Grossissement

Max: 8 000 000 unit

Min: 20 unit

Résolution spatiale

0,08 nm, 0,1 nm

Description

Une résolution spatiale de 0,078 nm en STEM est obtenue, associée à une grande capacité d'inclinaison de l'échantillon et à un ou plusieurs détecteurs EDX à grand angle solide, le tout dans une configuration à objectif unique. Le HF5000 s’appuie sur les fonctionnalités du STEM dédié Hitachi HD-2700, notamment le correcteur d’aberrations entièrement automatisé développé par Hitachi, le double détecteur SDD EDX symétrique et l’imagerie SE corrigée en Cs. Il intègre également les technologies TEM/STEM avancées développées dans la série HF. L’intégration de ces technologies éprouvées dans une nouvelle plateforme TEM/STEM de 200 kV donne naissance à un instrument offrant une combinaison optimale d’imagerie et d’analyse à l’échelle sub-Å, ainsi que la flexibilité et les capacités uniques nécessaires pour mener à bien les études les plus avancées. Caractéristiques Correcteur d’aberration sphérique à formation de sonde entièrement automatisé d’Hitachi Canon à électrons FE à froid (Cold FEG) à haute luminosité et haute stabilité Colonne et alimentations électriques ultra-stables pour des performances améliorées de l’instrument Capacité d’imagerie SEM et STEM simultanée corrigée au césium avec une résolution atomique Nouvelle platine d’échantillonnage à entrée latérale et nouveaux porte-échantillons à haute stabilité Deux détecteurs EDX* de 100 mm² disposés symétriquement en vis-à-vis : « Symmetrical Dual SDD* » Boîtier de conception nouvelle pour des performances optimales dans les environnements réels de laboratoire Une large gamme de porte-échantillons avancés Hitachi* FEG à froid haute luminosité × Haute stabilité × Correcteur d’aberration automatisé Hitachi Le nouveau FEG à froid haute stabilité utilise une version entièrement repensée de la technologie Hitachi de source d’électrons à émission de champ à froid, établie de longue date. La stabilité globale du système a également été optimisée afin de permettre une imagerie à l'échelle sub-Å. La colonne, les alimentations électriques

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.