Microscopes de laboratoire HITACHI

Grossissement: 20 unit - 2 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,6, 0,9 nm

... Microscopes électroniques à balayage à effet Schottky (FE-SEM) pour l'imagerie à ultra-haute résolution et les travaux d'analyse Idéal pour les utilisateurs qui souhaitent à la fois bénéficier d'une imagerie à ultra-haute résolution ...

Grossissement: 6, 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 15, 4 nm

... aussi bien aux professionnels chevronnés qu’aux novices en microscopie électronique. La configuration flexible de l’instrument en fait un choix idéal pour divers environnements de laboratoire. Que vous travailliez sur ...

Grossissement: 10 unit - 250 000 unit
Longueur: 617 mm

... surveillance du filament Le microscope électronique à balayage Hitachi TM4000PlusIII offre une solution compacte et conviviale pour l’imagerie et l’analyse élémentaire. Conçu pour un large éventail d’utilisateurs – des laboratoires ...

Grossissement: 20 unit - 8 000 000 unit
Résolution spatiale: 0,08, 0,1 nm

... Symmetrical Dual SDD* » Boîtier de conception nouvelle pour des performances optimales dans les environnements réels de laboratoire Une large gamme de porte-échantillons avancés Hitachi* FEG à froid haute luminosité × Haute stabilité ...

Grossissement: 1 000 000, 800 000, 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... La série HT7800 est une gamme de microscopes électroniques à transmission (MET) de 120 kV qui allie une acquisition de données de haute qualité et reproductible à une efficacité accrue pour les travaux d’observation. Grâce à l’automatisation ...

Grossissement: 5 unit - 600 000 unit
Résolution spatiale: 0,9, 2,5 nm

... , ces MEB vous offrent la polyvalence et la stabilité nécessaires pour répondre aux objectifs de votre laboratoire. Idéaux tant pour les laboratoires de recherche que pour les environnements industriels, les modèles SU3800SE ...

Résolution spatiale: 60, 4 nm

... intégré de l’orientation de l’échantillon pour l’effet anti-curtaining (technologie ACE) Préparation d’échantillons pour microscopie électronique à transmission (TEM) permettant d’obtenir des lamelles uniformes quelle que soit leur orientation 4. ...

Résolution spatiale: 1,6, 2,1, 4 nm

... permettant ainsi de répondre aux exigences les plus récentes en matière d'analyse structurelle 3D, ainsi que pour les analyses par TEM et 3DAP. Le système FIB-SEM NX9000 offre une précision maximale dans le traitement des matériaux pour ...

Résolution spatiale: 2,8, 60, 4, 3,5 nm

... Le NX2000 est un FIB-SEM optimisé pour les applications dans le domaine des semi-conducteurs (analyse des défauts avec importation de coordonnées KLARF, extraction de lamelles TEM, développement de dispositifs). Avec une course X,Y de 205 x 205 mm, la ...