Microscope FIB NX9000
FIB-SEMde laboratoirepour la recherche

Microscope FIB - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB-SEM / de laboratoire / pour la recherche
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Caractéristiques

Type
FIB, FIB-SEM
Applications
de laboratoire, pour la recherche, biologique
Technique d'observation
3D
Configuration
au sol
Source d'électrons
à émission de champ froid
Autres caractéristiques
haute résolution, à fort contraste
Résolution spatiale

1,6 nm, 2,1 nm, 4 nm

Description

Dans ce système unique, les colonnes Ga-FIB et FE-SEM sont placées à angle droit l'une par rapport à l'autre. Cette configuration est idéale pour les applications où de grands volumes (tissus biologiques, matériaux avec de grandes structures granulaires, composants semi-conducteurs, etc.) doivent être analysés en 3D sans distorsion et avec la plus haute résolution, même avec des champs de vision très larges. l'analyse EBSD 3D peut également être réalisée avec un échantillon complètement stationnaire, c'est-à-dire sans mouvement de l'échantillon entre la coupe FIB et l'analyse EBSD de la couche.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.