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... les porte-échantillons eux-mêmes sont la principale source de contamination. Dans ce cas, le traitement au plasma s'avère souvent trop brutal au point d'altérer, voire de détruire l'échantillon. Les ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Hitachi High-Tech Europe GmbH
... IM4000 II est un système modulaire de polissage par ions argon commandé par ordinateur qui peut être équipé comme un polisseur de surface pure, comme un polisseur de sections transversales ou comme un ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Hitachi High-Tech Europe GmbH
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Boeckeler Instruments, Inc.
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... manuelle répétitive rendant l’observation SEM plus efficace et plus facile. Nouvelle fonction Simple SEM La fonction « Simple SEMTM » prend en charge le travail de routine quotidien. Échantillon ...
Jeol
... Le nettoyeur d'échantillons de table ZONESEMII utilise une technologie de nettoyage à base d'UV pour minimiser ou éliminer la contamination par les hydrocarbures pour l'imagerie en microscopie électronique. Vue ...
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