Systèmes de préparation d'échantillons pour microscopie électronique

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système de préparation d'échantillons automatique
système de préparation d'échantillons automatique
ZONETEM II

... stockage des échantillons dans un seul appareil Nettoyage sous vide adapté à une large gamme de types d’ échantillons Présentation générale La contamination par les hydrocarbures est l’un des principaux obstacles à ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
système de préparation d'échantillons automatique
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ZONESEM II

... nettoyeur d' échantillons de table ZONESEMII utilise une technologie de nettoyage par UV pour réduire au minimum, voire éliminer, la contamination par les hydrocarbures en vue de l'imagerie par microscopie électronique. Présentation La ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
système de préparation d'échantillons automatique
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IM4000 II

... compatible avec les microscopes Hitachi et d’autres marques Présentation Les systèmes de fraisage ionique Hitachi IM4000II et IM5000 permettent une préparation d’ échantillons de haute ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
système de préparation d'échantillons automatique
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ArBlade 5000

... Le système à faisceau ionique large le plus avancé pour la production d' échantillons de coupe transversale ou de fraisage à plat d'une qualité exceptionnelle destinés à la microscopie électronique. Caractéristiques Vitesse ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
système de préparation d'échantillons automatisé
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QG-3100

... de contraster jusqu'à 40 grilles en une seule fois. Il est simple à utiliser, programmable et rentable. Le colorant automatique QG-3100 augmente à la fois la qualité de la coloration et le rendement en minimisant la contamination, ...

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Boeckeler Instruments, Inc.
préparateur d'échantillons automatisé
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EMP-5160

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Boeckeler Instruments, Inc.
système de préparation d'échantillons automatique
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EM GP2

... de l'EM GP2 est conçue pour la vitrification reproductible d' échantillons fluides et très fins sur grilles pour microscopie électronique. Les échantillons subissent un blotting automatique ...

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Leica Microsystems
système de préparation d'échantillons entièrement automatisé
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EM TP

... >
Préparez les spécimens tissulaires pour la microscopie électronique avec des flux de travail automatisés et reproductibles grâce au processeur automatique d' échantillons tissulaires ...

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Leica Microsystems
système de préparation d'échantillons automatique
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EM AFS2

... précis des échantillons.

Principales caractéristiques

  • Réduction du temps de préparation – Dilution automatique à partir de contenants de réactifs à 100% limitant la manipulation
...

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Leica Microsystems
système de préparation d'échantillons entièrement automatisé
système de préparation d'échantillons entièrement automatisé
EM CPD300

... fluides d'échange sans contact direct avec l'utilisateur.
Applications / Types d'échantillons adaptés

  • Échantillons biologiques : pollen, tissus, végétaux,
...

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Leica Microsystems
système de préparation d'échantillons automatique
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EM TIC 3X

... application. Des résultats reproductibles Le système de polissage à triple faisceau ionique, Leica EM TIC 3X, permet la production de sections transversales et de surfaces polies pour la microscopie électronique ...

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Leica Microsystems
système de préparation d'échantillons automatique
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EM KMR3

... par la tête. D'une manipulation aisée Le système unique de tiroir permet un retrait sûr et pratique du couteau de verre sans outil supplémentaire. Opération aisée Une réinitialisation automatique du mécanisme ...

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Leica Microsystems
système de préparation d'échantillons pour microscopie électronique
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ZONESEMII

... Le nettoyeur d' échantillons de table ZONESEMII utilise une technologie de nettoyage à base d'UV pour minimiser ou éliminer la contamination par les hydrocarbures pour l'imagerie en microscopie électronique. Vue ...

système de préparation d'échantillons automatique
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POLISHER™

... Le CROSS SECTION POLISHER™ (CP) est un dispositif permettant de préparer une coupe transversale d'un échantillon pour la microscopie électronique. Étant donné qu'une coupe transversale est préparée avec ...

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Jeol
système de préparation d'échantillons automatique
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POLISHER™

... 500 µm/h ou plus Taille maximale de l' échantillon 11 mm (W) x 10 mm (L) x 2 mm (T) en standard. Pivotement de l' échantillon Pivotement automatique pendant le polissage à ± 30° Mode de démarrage ...

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Jeol
système de préparation d'échantillons automatique
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POLISHER™

... manuelle répétitive rendant l’observation SEM plus efficace et plus facile. Nouvelle fonction Simple SEM La fonction « Simple SEMTM » prend en charge le travail de routine quotidien. Échantillon ...

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