Système de préparation d'échantillons automatique IM4000 II

pour SEMde refroidissementfraisage par faisceaux d'ions

Vitesse de fraisage élevée : préparation rapide et efficace des échantillons pour les matériaux durs Fraisage en coupe transversale et à plat : options flexibles pour différentes applications Refroidissement cryogénique (en option) : réduit les dommages causés aux échantillons sensibles à la température Interface conviviale : commandes intuitives sur écran tactile pour une utilisation aisée Optimisé pour la microscopie électronique à balayage (MEB) et la microscopie à force atomique (AFM) : compatible avec les microscopes Hitachi et d’autres marques Présentation Les systèmes de fraisage ionique Hitachi IM4000II et IM5000 permettent une préparation d’échantillons de haute précision pour la microscopie électronique à balayage. Que vous analysiez des métaux, des semi-conducteurs, des polymères, des céramiques ou des matériaux stratifiés, ces systèmes garantissent des coupes transversales et un polissage de surface de haute qualité avec un minimum d’artefacts. Conçus pour la recherche universitaire, le contrôle qualité industriel et les laboratoires de science des matériaux, ces deux systèmes fournissent des résultats rapides et reproductibles, ce qui les rend indispensables pour les applications avancées de microscopie électronique. L’IM4000II est un système tout-en-un permettant à la fois le fraisage de sections transversales et/ou de surfaces planes, ce qui en fait une option flexible pour les laboratoires ayant besoin d’un outil de préparation d’échantillons de base. Plus avancé, l’IM5000 offre une vitesse de fraisage plus élevée et permet le fraisage de sections transversales sur une large surface, ce qui le rend parfait pour les applications exigeantes et les laboratoires nécessitant un débit élevé. Caractéristiques et avantages Réduisez les délais d’exécution sans compromettre l’intégrité des échantillons. L’IM4000II atteint une vitesse de fraisage de 500 μm/h, tandis que l’IM5000 offre une vitesse impressionnante de 1 mm/h ou plus (pour un échantillon de Si présentant une saillie de 100 μm). Idéal pour les matériaux durs tels que les métaux et les semi-conducteurs qui nécessitent un broyage prolongé. Bénéficiez de la flexibilité nécessaire pour préparer vos échantillons exactement comme vous le souhaitez.