Système d'inspection Wafer

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Description

Le système d'inspection des plaquettes détecte les contaminations, ou les défauts et les erreurs, parmi les motifs de circuit sur une plaquette de silicium en utilisant le système SEM ou le système à champ sombre.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.