Microscope SEM VEGA

d'inspectionde laboratoirepour la recherche en matériaux

Prouvant que l'entrée de gamme ne doit pas être synonyme de compromis sur les résultats, TESCAN VEGA Compact offre une solution SEM analytique complète pour les laboratoires qui accordent la priorité à la facilité d'utilisation et à la rapidité d'obtention d'images de haute qualité et d'analyse de la composition (EDS). TESCAN VEGA Compact présente une configuration simplifiée qui n'inclut que les composants les plus critiques pour capturer efficacement les données morphologiques et élémentaires, ce qui permet à TESCAN VEGA Compact d'occuper un espace plus réduit dans le laboratoire. Capable de prendre en charge des échantillons de grande taille, courants dans l'industrie, la science des matériaux et les semi-conducteurs - comme les coupes transversales métallurgiques, les structures soudées ou les cartes de circuits imprimés - TESCAN VEGA Compact est un excellent choix non seulement pour vos besoins actuels d'inspection des matériaux, de contrôle qualité et d'analyse des défaillances, mais aussi pour vos besoins analytiques futurs. TESCAN VEGA Compact fonctionne à partir de l'interface utilisateur graphique complète de TESCAN, TESCAN Essence™, qui est au cœur de tous les instruments SEM et FIB-SEM de TESCAN. Un opérateur qui apprend sur le TESCAN VEGA Compact peut facilement faire la transition vers d'autres microscopes TESCAN ou adapter certaines caractéristiques de l'environnement logiciel Essence pour qu'il corresponde à l'interface graphique d'autres instruments du laboratoire. Principaux avantages Traitez les échantillons plus rapidement grâce à la grande chambre du VEGA Compact, qui offre l'espace nécessaire à l'analyse de plusieurs échantillons ou d'échantillons de grande taille, ainsi qu'un vide poussé pour des résultats EDS fiables Acquérir facilement des données de composition et les corréler directement à l'image SEM grâce à la fonction de superposition de l'Essence™ EDS optionnel et entièrement intégré de TESCAN