Microscope SEM MAGNASTEMpour la recherche en matériauxde table
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Caractéristiques
- Type
- SEM, STEM
- Applications
- pour la recherche en matériaux
- Configuration
- de table
- Autres caractéristiques
- haute résolution
Description
SEM UHR pour la caractérisation des nanomatériaux à l'échelle sub-nanométrique
Imagerie à haute résolution et à fort contraste des matériaux de nouvelle génération (par exemple, structures de catalyseurs, nanotubes, nanoparticules et autres structures à l'échelle nanométrique)
Excellente plateforme pour la métrologie SEM/STEM à l'échelle sub-nanométrique
Mise en place rapide du faisceau d'électrons - les conditions d'imagerie optimales sont garanties par le système In-Flight Beam Tracing™
Système multidétecteur TriBE™ et TriSE™ pour la nanocaractérisation des échantillons
Plateforme modulaire logicielle intuitive conçue pour une utilisation sans effort quel que soit le niveau de compétence des utilisateurs
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.