Microscope optique MIRA

SEMpour la biologied'inspection

Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN MIRA avec source d'émission d'électrons FEG Schottky combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition élémentaire dans une seule fenêtre du logiciel Essence™ de TESCAN. Cette combinaison simplifie considérablement l'acquisition des données morphologiques et élémentaires de l'échantillon, ce qui fait du MIRA SEM une solution analytique efficace pour l'inspection de routine des matériaux dans les laboratoires de contrôle qualité, d'analyse des défaillances et de recherche. Plateforme analytique dotée d'un système TESCAN Essence™ EDS entièrement intégré, qui combine efficacement l'imagerie MEB et l'analyse de la composition élémentaire dans une seule fenêtre du logiciel Essence™. Conditions d'imagerie et d'analyse optimales immédiatement disponibles grâce à la conception optique unique sans ouverture de TESCAN, alimentée par In-flight Beam Tracing™. Navigation SEM sans effort et précise sur l'échantillon à des grossissements aussi faibles que 2× sans avoir besoin d'une caméra de navigation optique supplémentaire grâce à la conception unique Wide Field Optics™. Mode SingleVac™ en standard pour l'observation des échantillons en charge et sensibles au faisceau. Logiciel Essence™ intuitif et modulaire conçu pour une utilisation sans effort quel que soit le niveau d'expérience de l'utilisateur. La sécurité ultime des détecteurs montés sur la chambre lorsque la platine et l'échantillon sont en mouvement est garantie par le modèle Essence™ 3D Collision. Des détecteurs SE et BSE en colonne sont disponibles en option, y compris la technologie de décélération du faisceau pour améliorer les performances d'imagerie à des tensions d'accélération plus faibles. Plateforme analytique modulaire qui peut être équipée en option du plus grand choix de détecteurs entièrement intégrés (par exemple CL, ESB refroidi à l'eau ou spectromètre RAMAN).