Entrez en contact avec vos nouveaux clients en un seul endroit, toute l'année
Devenir exposant
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Le microscope électronique à balayage (MEB) de 4e génération de TESCAN MIRA avec source d'émission d'électrons FEG Schottky combine l'imagerie MEB et l'analyse en direct de la composition élémentaire ...
TESCAN GmbH
... SEM UHR analytique sans champ pour la caractérisation des matériaux à l'échelle nanométrique Caractérisation sans compromis de tous les types de matériaux à l'échelle nanométrique Idéal pour la caractérisation des matériaux à faible ...
TESCAN GmbH
Entrez en contact avec vos nouveaux clients en un seul endroit, toute l'année
Devenir exposant
Veuillez préciser :
Aidez-nous à nous améliorer :
restant