Diffractomètre à rayons X XtaLAB Synergy-S
de laboratoire

diffractomètre à rayons X
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Caractéristiques

Type
à rayons X
Application
de laboratoire

Description

Nous avons développé le diffractomètre de rayons X XtaLAB Synergy-S pour la diffraction de rayons X sur monocristaux en pensant avant tout à votre réussite. Grâce à une combinaison de composants de pointe et de logiciels inspirés par l'utilisateur, reliés par une architecture hautement parallélisée, le XtaLAB Synergy-S produit des données rapides et précises de manière intelligente. Le système est basé sur la série PhotonJet-S de sources de rayons X microfocalisées qui intègrent en option des fentes de divergence à variation continue. Ces sources de troisième génération ont été conçues pour maximiser les photons de rayons X au niveau de l'échantillon grâce à une combinaison de nouvelles optiques, de nouveaux tubes à durée de vie plus longue et d'un système d'alignement amélioré. Les sources PhotonJet-S sont disponibles pour les longueurs d'onde Cu, Mo ou Ag, en configuration simple ou double. Le diffractomètre à rayons X monocristallin XtaLAB Synergy-S est équipé d'un goniomètre kappa qui intègre des vitesses de moteur rapides et un bras télescopique unique à deux thêta afin d'offrir une flexibilité totale pour votre expérience de diffraction. Le système est également équipé de détecteurs de comptage de photons hybrides HPC, le HyPix-6000HE ou les détecteurs à grande couverture thêta : HyPix-Arc 100° ou HyPix-Arc 150°. Dans certains contextes, il est souhaitable de partager les ressources instrumentales entre différents groupes de recherche.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.