Diffractomètre à rayons X XtaLAB Synergy-ED

de laboratoire

Un système dont l'utilisation est intuitive pour tout cristallographe à rayons X Le XtaLAB Synergy-ED est un nouveau diffractomètre électronique entièrement intégré, qui permet un flux de travail continu, de la collecte des données à la détermination des structures moléculaires tridimensionnelles. Le XtaLAB Synergy-ED est le résultat d'une collaboration innovante visant à combiner de manière synergique nos technologies de base : Le détecteur de comptage de photons à haute vitesse et haute sensibilité de Rigaku (HyPix-ED) et la plate-forme logicielle de pointe pour le contrôle des instruments et l'analyse des monocristaux (CrysAlisPro for ED), ainsi que l'expertise à long terme et le leadership du marché de JEOL en matière de conception et de production de microscopes électroniques à transmission. La caractéristique principale de ce produit est qu'il fournit aux chercheurs une plateforme intégrée permettant un accès facile à la cristallographie électronique. Le XtaLAB Synergy-ED est un système que tout cristallographe à rayons X trouvera intuitif sans avoir à devenir un expert en microscopie électronique. Le XtaLAB Synergy-ED a été conçu pour répondre au besoin croissant d'étudier des échantillons de plus en plus petits dans la recherche structurale. En cristallographie à rayons X, la plus petite dimension possible d'un cristal est de 1 micron, et ce uniquement lorsque l'on utilise les sources de rayons X les plus brillantes et des détecteurs sans bruit. Cependant, ces dernières années, le besoin d'analyser la structure des substances qui ne forment que des microcristaux, c'est-à-dire des cristaux dont la taille ne dépasse pas quelques centaines de nanomètres, s'est fait de plus en plus pressant. Ces dernières années, une nouvelle méthode d'analyse, MicroED, a été mise au point. Elle utilise la diffraction électronique sur un microscope électronique TEM pour mesurer les structures moléculaires en 3D des matériaux nanocristallins.