Analyse qualitative et quantitative de la phase des matériaux polycristallins
Le diffractomètre à rayons X de paillasse MiniFlex est un instrument analytique polyvalent de diffraction des poudres qui permet de déterminer : l'identification et la quantification des phases cristallines, le pourcentage (%) de cristallinité, la taille et la déformation des cristallites, l'affinement des paramètres du réseau, l'affinement de Rietveld et la structure moléculaire. Il est largement utilisé dans la recherche, notamment en science des matériaux et en chimie, ainsi que dans l'industrie pour la recherche et le contrôle de la qualité. C'est le dernier né de la série MiniFlex d'analyseurs de diffraction des rayons X de table de Rigaku, qui a débuté avec l'introduction du système XRD MiniFlex original il y a plusieurs dizaines d'années.
Diffraction des rayons X sur poudre avec détecteur HPAD
Le système MiniFlex XRD offre rapidité et sensibilité grâce à des avancées technologiques innovantes, notamment le détecteur HyPix-400 MF 2D hybrid pixel array (HPAD), une source de rayons X de 600 W et un nouveau passeur automatique d'échantillons à 8 positions.
Détecteur hybride à matrice de pixels (HPAD)
Ce nouveau détecteur à comptage direct de photons permet une collecte de données à grande vitesse et à faible bruit. Il peut être utilisé en modes 0D et 1D pour l'analyse XRD conventionnelle et en mode 2D pour les échantillons à gros grains et/ou à orientation préférentielle.
Les accessoires de XRD améliorent votre MiniFlex
Une variété d'anodes de tubes à rayons X, une gamme d'accessoires de rotation et de positionnement des échantillons, ainsi qu'une variété d'accessoires de température, sont proposés pour garantir que le système de diffraction des rayons X (DRX) MiniFlex est suffisamment polyvalent pour effectuer des analyses qualitatives et quantitatives difficiles d'une large gamme d'échantillons, qu'il s'agisse de recherche ou de contrôle de qualité de routine.
---