Diffractomètre à rayons X MiniFlex

pour la recherche

Le diffractomètre à rayons X de table MiniFlex de sixième génération est un instrument analytique polyvalent de diffraction des poudres qui permet de déterminer : l'identification et la quantification de la phase cristalline (phase ID), le pourcentage (%) de cristallinité, la taille et la déformation des cristallites, l'affinement des paramètres du réseau, l'affinement de Rietveld et la structure moléculaire. Il est largement utilisé dans la recherche, notamment en science des matériaux et en chimie, ainsi que dans l'industrie pour la recherche et le contrôle de la qualité. C'est le dernier né de la série MiniFlex d'analyseurs de diffraction des rayons X de table de Rigaku, qui a débuté avec l'introduction du système XRD MiniFlex original il y a plusieurs dizaines d'années. Caractéristiques Nouvelle conception de 6ème génération Enceinte de rayonnement compacte et à sécurité intégrée Fente variable pour le faisceau incident Installation simple et formation de l'utilisateur Système de goniomètre aligné en usine Fonctionnement sur ordinateur portable Mesures : Identification de la phase Quantification des phases (identification des phases) Pourcentage (%) de cristallinité Taille et déformation des cristallites Affinement des paramètres du réseau Affinement de Rietveld Structure moléculaire